表面和体积电阻率测试仪（高阻）参照标准：

(1)参照标准：GB/T 22042-2008《服装 防静电性能 表面电阻率试验方法》；EN 1149-1-1995 《 静电性能 第1部分表面电阻检验方法和要求》；GB/T 1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》（与国际标准IEC93-1980等效）；FZ/T 64013-2008 《静电植绒毛绒》；

SJ/10694-2006《电子产品制造与应用系统防静电检测通用规范》6.1及ASTM D257《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》要求制作。GB/T 2439-2001《硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定》；GB/T 10581-2006 《绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法》 ；GB/T 1692-2008 《硫化橡胶绝缘电阻率的测定》；GB/T 12703.4-2010 《纺织品 静电性能的评定 第４部分：电阻率》 GB/T 10064-2006《测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法》。

表面和体积电阻率测试仪（高阻）适用范围：

适用于测量粉末、粉体、颗粒物、气体、电子元器件、介质材料、电线电缆、防静电产品、如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值等绝缘性能的检验和电子电器产品的绝缘电阻测量。

功能介绍：

配不同的测量电极(夹具)可以测量不同材料 (固体、粉体或液体)的体积电阻率和表面电阻率. 具有高电阻，微电流测量，中文或英文两种语言本.

主要特点

BEST-310炭素电阻率测试仪

1. 描述：

四端测试法测量碳素材料，石墨等块状棒状及粉末材料常温下导电性能。恒流，自动电流档， 4.3吋液晶显示，显示：电流、电压、温度、电阻率，电导率，电阻等数据，选配：PC软件获得测试数据之图谱和报表。根据产品形状不同选购测试治具.

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二.适用范围：

适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门对材料之研究.

三.参照标准：

铝用炭素材料检测方法 第2部分 阴极炭块和预焙阳极室温电阻率的测定 GB/T6717、GB/T 24525-2009、YS/T63.2炭素材料电阻率测定方法.；ISO 11713-2000、YS/T63.2-2005和YS/T 64-1993标准方法测试阴极炭块、预焙阳极、阳极糊阴极糊和炭素制品常温下的电阻率。

炭素材料制品的电阻率值是评价炭制品电极质量，也是在炭制品加工中控制监督工艺过程的重要参数。

测量电阻灵敏度达0.01μΩ. ，测试电流能达到10A

高频介电常数测试仪

介电常数测量技术在民用，工业以及等各个领域应用广泛。本文主要对介电常数测量的常用方法进

行了综合论述。首先对标准进行了对比总结；然后分别论述了几种常用测量方法的基本原理、适用范围、

优缺点及发展近况；后对几种测量方法进行了对比总结，得出结论。

介电常数是物体的重要物理性质，对介电常数的研究有重要的理论和应用意义。电气工程中的电介质问题、电磁兼容问题、生物、微波、电子技术食品加工和地质勘探中，无一不利用到物质的电磁特性，对介电常数的测量提出了要求。目前对介电常数测量方法的应用可以说是遍及民用、工业、国防的各个领域

在食品加工行业当中，储藏、加工、灭菌、分级及质检等方面都广泛采用了介电常数的测量技术。例如，通过测量介电常数的大小，新鲜果蔬品质、含水率、发酵和干燥过程中的一些指标都得到间接体现，此外，根据食品的介电常数、含水率确定杀菌时间和功率密度等工艺参数也是重要的应用之一[1]。在路基压实质量检测和评价中，如果利用常规的方法，尽管测量结果比较准确，但工作量大、周期长、速度慢且对路面造成破坏。由于土体的含水量、温度及密度都会对其介电特性产生不同程度的影响，因此可以采用雷达对整个区域进行测试以反算出介电常数的数值，通过分析介电性得到路基的密度及压实度等参数，达到快速测量路基的密度及压实度的目的[2]。此外，复介电常数测量技术还在水土污染的监测中得到了应用[3]。并且还可通过对岩石介电常数的测量对地震进行预报[4]。上面说的是介电常数测量在民用方面的部分应用，其在工业上也有重要的应用。典型的例子有低介电常数材料在超大规模集成电路工艺中的应用以及高介电常数材料在半导体储存器件中的应用。在集成电路工艺中，随着晶体管密度的不断增加和线宽的不断减小，互联中电容和电阻的寄生效应不断增大，传统的绝缘材料二氧化硅被低介电常数材料所代替是必然的。目前Applied Materials 的BlackDiamond 作为低介电常数材料，已经应用于集成电路的商业化生产[5]。在半导体储存器件中，利用高介电常数材料能够解决半导体器件尺寸缩小而导致的栅氧层厚度极限的问题，同时具备特殊的物理特性，可以实现具有特殊性能的新器件[6]。在方面，介电常数测量技术也广泛应用于雷达和各种特

殊材料的制造与检测当中。对介电常数测量技术的应用可以说是不胜枚举。介电常数的测量技术已经广泛应用于民用、工业和国防各个领域，并且有发展的空间和必要性。我们对测量介电常数的方法进行总结，能更清晰的认识测量方法的现状，为某些应用提供一种可能适合的方法，是有一定理论和工程应用意义的。

.介电常数测量方法综述介电常数的测量按材质分类可以分为对固体、液体、气体以及粉末(颗粒)的测量[7]。固体电介质在测量时应用为广泛，通常可以分为对固定形状大小的固体和对形状不确定的固体的测量。相对于固体，液体和气体的测试方法较少。对于液体，可以采用波导反射法测量其介电常数，误差在5%左右[8]。此外标准中给出了在90℃、工频条件下测量液体损耗角正切及介电常数的方法[9]。对于气体，具体测试方法少且精度都不十分高。文献[10]中给出一种测量方法，以测量共振频率为基础，在LC 串联谐振电路中产生震荡，利用数字频率计测量谐振频率，不断改变压强和记录当前压强下谐振频率，后用作图或者一元线性回归法处理数据，得到电容变化率进而计算出相对介电常数。

表1 是测量固体介电常数的标准方法(不包括废止的方法)及其对频率、介电常数范围、材料等

情况的要求。如表1 所示，标准中已经对微扰法和开式腔法的过程做了详细介绍，然而对适用频率和介电常数的范围都有所限制。所以在不同材料，不同频率的情况下，标准也给出了相应的具体测量方法。可见，上面所分析的方法并不是可以随便套用的。在不同的系统、测量不同的材料、所要求的频率不同的情况下，需要对其具体问题具体分析，这样才能得出准确的方法。标准测量方法覆盖的频率为50 MHz 以下和100 MHz 到30 GHz，可以说是一个较广的频率覆盖范围，但是不同范围适用的材料和环境等都有所不同。介电常数的覆盖范围是2 到100，接近1 的介电常数和较高介电常数的测量方法比较稀缺，损耗普遍在10−3 到10−4 的数量级上。3. 测量介电常数的几种主要方法从总体来说，目前测量介电常数的方法主要有集中电路法、传输线法、谐振法、自由空间波法等等。其中，传输线法、集中电路法、谐振法等属于实验室测量方法，测量通常是在实验室中进行，要求具有相应的样品采集技术。另外对于已知介电常数材料发泡后的介电常数通常用经验公式得到[26]。下面，分别对这几种方法的原理、特点和发展现状等做分别阐述。3.1. 集中电路法集中电路法是一种在低频段将有耗材料填充电容，利用电容各参数以及测量得到的导纳推出介电常数的一种方法。其原理公式为：

其中， Y 为导纳， A 为电容面积， d 为极板间距离，e0 为空气介电常数，ω 为角频率。为了测量导纳，通常用并联谐振回路测出Q 值(品质因数)和频率，进而推出介电常数。由于其高频率会受到小电感的限制，这种方法的高频率一般是100 MHz。小电感一般为10 nHz 左右。如果电感过，高频段杂散电容影响太大。如果频率过高，则会形成驻波，改变谐振频率同时辐射损耗骤然增加。但这种方法并不适用于低损材料。因为这种方法能测得的Q 值只有200 左右，使用网络分析仪测得tand 也只在10−4 左右。这种方法不但准确度不高，而且只能测量较低频率，在现有通信应用要求下已不应用。

[GB/T 1693-2007]硫化橡胶介电常数和介质损耗角工频、高频适用于硫化橡胶

正切值的测定方法

[GB/T 5597-1999]固体电介质微波复介电常数的测

2~18 试方法 GHz 2~20 0.0001~0.005

[GB 7265.1-87]固体电介质微波复介电常数的测试方2~18 GHz 2~20 0.0001~0.005 微扰法

法——微扰法

[GB 7265.2-87]固体电介质微波复介电常数的测试方法——“开式腔”法 3~30 GHz 5~100 0.0002~0.006 开式腔法

[GB 11297.11-89]热释电材料介电常数的测试方法1 kHz ± 5% 适用于热释电材料

[GB 11310-89]压电陶瓷材料性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测试 1 kHz 适用于压电陶瓷材料

[GB/T 12636-90]微波介质基片复介电常数带状线测1~20 GHz 2~25 0.0005~0.01 试方法

[QJ 1990.3-90]电绝缘粘合剂电性能测试方法工频、工频、高频适用于电绝缘粘合剂

高频下介质损耗角正切及相对介电常数的测量(1 MHz 以下)

[SJ 20512-1995]微波大损耗固体材料复介电常数和

2~40 GHz 2~100<1.2 适用于微波大损耗固体材料

复磁导率测试方法

[SJ/T 1147-93]电容器用有机薄膜介质损耗角正切值工频、1 kHz、1 适用于电容器用有机薄膜

和介电常数试验方法MHz

[SJ/T 10142-91]电介质材料微波复介电常数测试方4~12 GHz 4~80 0.1~1 适用于电介质材料、同轴线终端开路