XD laser激光干涉仪

美国API公司XD laser激光干涉仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-05-16 16:53:16
1056
属性:
产地类别:进口;价格区间:面议;应用领域:化工,生物产业,建材,制药,综合;
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产品属性
产地类别
进口
价格区间
面议
应用领域
化工,生物产业,建材,制药,综合
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青岛路博建业环保科技有限公司

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产品简介

XD laser激光干涉仪青岛路博青岛路博青岛路博青岛路博青岛路博青岛路博青岛路博青岛路博青岛路博

详细介绍

XD laser激光干涉仪     XD laser激光干涉仪

 

 

一维测量系统XD –1D标准型&精密型
        三维测量系统XD –3D
        五维测量系统XD –5D标准型&精密型
        六维测量系统XD –6D 标准型&精密型

测量机床全部误差所用的时间越短,越能够反映所测机床的真实情况。当用传统干涉仪测量时,因在测量各项指标时更换光学镜调整光路上要浪费大量的时间,难以保证机床检测数据的稳定性和重复再现性。XD系列激光干涉仪约在2000年进入中国市场,结合激光干涉技术和光电自准直技术:不仅可用于精度的终评价, 也可用于机床的安装调整。XD Laser 激光干涉仪是API公司的产品。-次安装即可以测得6个参数.包括1个位置度误差. 2个直线度误差和3个角度误差。通常时间需数天进行的测试,使用API激光干涉仪只需几个小时即可完成。实际应用结果表明:可节省时间高达80%。

图示:XD激光干涉仪

*结构设计

API公司采用了稳定钢球与绝热层的双重定位设计,将干涉镜用高绝热层与激光器主机隔开,从而避免了干涉镜受热变形,用稳定钢珠将干涉镜前端的干涉区与下端底盘定位相连,从而使激光管及电路板发热而引起的热膨胀方向沿稳定钢珠中线向后,使得干涉镜不受影响,保证了测量准确性。

主要特性:

􀂾一次安装能测量6项精度指标包括线性定位误差、XX及YY两个方向直线度、偏摆角、俯仰角、滚动角
􀂾把反射镜换成五棱镜既可测量两轴间垂直度
􀂾两点调光线.无需三脚架. 测量调整简单快速
􀂾传统激光干涉仪测量20项精度指标(三轴),约需3天的时间;API干涉仪只约需半天!
􀂾测量直线度/小角度/垂直度/转台时, 不怕断光, 可当自准直仪用, 用于机床装配调试

机床主要误差:

激光干涉仪

         ↓

几何误差(21项:线性定位误差
                         直线度误差(XX及YY方向)
                         垂直度
                         偏摆角(A)
                         俯仰角(B)
                         滚动角(C)

 

主轴测量系统:

         ↓

温升热变性误差: 主轴温升

                           导轨温升变性
                           切削热变性
操作误差:刀具安装
                工件定位
                切削速度

 

API激光干涉仪与角摆检查仪配合工作

 

美国API软件功能:

从初的系统校准到测量结果的审查.再到机床的空间精度补偿,API软件 都会无微不至地协助您完成测量工作:易于使用一- 界面设计明朗,让操作者一目了然。高效多功能一无论您测量位置度.直线度.角度、平面度甚至是空间误差补偿以及数控程序,XD Laser和API软件都将伴您左右,帮助提高您的生产效率。

美国API软件功能

 

 

 

 

SPELECNIR是市场上*将近红外光谱与电化学测量集成在一起的仪器,所有组件都完美匹配,其中电化学和光学测量可以实现准确同步。仪器中集成了光源、光谱仪和一台双恒电位/恒电流仪。

 

该仪器还可以作为近红外光谱仪或双恒电位/ 恒电流仪独立使用。SPELECNIR可以与标准比色皿支架或光谱电化学测试池池一起使用,也可以配合DropSens测试池和丝网印刷电极一起使用。

 

主要特点

• DropView同时控制光谱与电化学测量

• 光谱信号与电化学测量同步采集

• 实时采集光谱,无延迟

• 暗谱与参考谱校正

• 计数、吸收率、透射率和反射率测量和计算

• 自动和手动快门控制

• 自由选择积分时间

• 强大的数据处理和分析

• 可分别提供光谱和电化学曲线相关信息

 

强大的的数据采集与结果处理

• 实时控制面板,可在电化学测量过程中随时连续收

集生成的光谱。

• 特定波长下光谱与电化学曲线图:电位吸收图,计时

吸收图和微分图。

• 独立收集每个光谱和电化学曲线的信息。

• 的EC范围内捕获的光谱, 获取与特定EC点相关

的光谱。

• 绘制叠加,峰积分,平滑(所有原始数据光谱)。

• 三维绘图, 录制实验影片。

• 所有数据均可导出Excel。

 

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