XL 80激光干涉仪   

XL 80激光干涉仪

激光系统射出的光波具有三种主要特性：
• 已知准确波长，可实现准确测量
• 波长非常短，可实现准确或高分辨率测量
• 所有光波相位相同，可根据已知的基准进行测量
 

应用：
1. 机器验证
XL-80激光系统常见的用途是用来验证运动系统。通过测量机器性能，用户不仅对加工过程充满信心，还可提前发现加工件中存在的问题。 与激光跟踪系统不同的是，XL-80可直接在机器上单独测量几何误差。这样一来，用户对测量结果更有信心，并且能够发现误差。
机器精度可通过以下途径提高：
• 对机器装配进行针对性改造
• 根据数据应用误差补偿重复运行测试可验证所作的改进并展示机器改进后的功能。

2. 误差补偿
误差补偿可通过减少机器所示位置和实际位置之间的误差来提升机器的整体性能。大多数机床都会包含一些用于调整反向间隙和线性误差的选项。然而，功能更强大的机床控制器可提供在刀尖位置应用空间补偿的选项。空间补偿将考虑所有几何误差，包括线性误差。XL-80可用于将补偿值填入到补偿表中。 雷尼绍空间补偿软件将激光测量读数转换成补偿文件，然后可直接将其输入到特定的机床控制器中。

3. 专业激光触发
当对线性测量采用“自动”采集功能时，系统会在机器移至一个被认为稳定的位置时测量位置误差。然而，一些应用需要激光系统在自定义的时间或在同步位置采集数据。
触发方式：
• 使用计算机鼠标或按键手动触发
• 编码器同步触发
• 基于时间的触发
• 利用继电器通过机器的控制器进行触发
* 要求使用TB10触发器

4. 动态分析
了解系统的动态特性，例如加速度、速度、振动、停止时间、共振和减振，对于许多应用都至关重要。这些特性将影响系统的操作能力，例如位置精度、重复性、表面光洁度及磨损。标准的XL-80激光干涉仪可以高达50 kHz的频率采集动态数据。QuickViewXL软件包简单易用，有直观的界面，能够记录、查看和保存动态数据。

5. 双轴
在一些设备中，机器的一个轴由两个驱动装置和两个反馈系统控制（如龙门铣床、车床和大型龙门型坐标测量机）。在这种情况下，两个激光装置与双轴软件结合使用，能够自动同步采集平行轴数据。双轴测量软件为LaserXL软件的标准配置。

SPELECNIR是市场上*将近红外光谱与电化学测量集成在一起的仪器，所有组件都完美匹配，其中电化学和光学测量可以实现准确同步。仪器中集成了光源、光谱仪和一台双恒电位/恒电流仪。

该仪器还可以作为近红外光谱仪或双恒电位/ 恒电流仪独立使用。SPELECNIR可以与标准比色皿支架或光谱电化学测试池池一起使用，也可以配合DropSens测试池和丝网印刷电极一起使用。

主要特点

• DropView同时控制光谱与电化学测量

• 光谱信号与电化学测量同步采集

• 实时采集光谱，无延迟

• 暗谱与参考谱校正

• 计数、吸收率、透射率和反射率测量和计算

• 自动和手动快门控制

• 自由选择积分时间

• 强大的数据处理和分析

• 可分别提供光谱和电化学曲线相关信息

强大的的数据采集与结果处理

• 实时控制面板，可在电化学测量过程中随时连续收

集生成的光谱。

• 特定波长下光谱与电化学曲线图：电位吸收图，计时

吸收图和微分图。

• 独立收集每个光谱和电化学曲线的信息。

• 的EC范围内捕获的光谱, 获取与特定EC点相关

的光谱。

• 绘制叠加，峰积分，平滑（所有原始数据光谱）。

• 三维绘图, 录制实验影片。

• 所有数据均可导出Excel。