1、HNDL系列大电流发生器直流电源用途标准
    

大电流试验设备按照使用一般分为以下几种：

1、单相大电流发生器

2、三相大电流发生器

3、智能型全自动大电流发生器

4、温升大电流发生器  温升试验设备  JP柜温升试验装置

5、直流大电流发生器

6、熔断器大电流试验装置
 Smartcollect采用“采集层-集成层-系统管理层”三层技术架构，模块化的设计易于通过具性价比的方式满足所有用户的实际需求。PM1-基础版Smartcollect基础版PM1，可通过简单的方式获取测试数据并将其存储于开放的SQL数据库中，具备基础的数据分析、能耗监控及报告生成功能，用户界面精美，操作便捷。PM2-增强版Smartcollect增强版PM2，在PM1的基础上增加了电能质量分析功能，支持标准PQDIFF电能质量文件，报告满足EN516标准。

1）基本型 可采用串并联，主要于电力系统的一次母线保护和电流互感器变比等试验，也可以对电流继电器及开关行程时间、过流速断、传动等试验进行整定。

2）集成型 集电流，时间，变比，极性于一体 为供电局，电厂现场测试。

3）瞬冲型  无需预调。（熔断器测试仪）电流直接输出额定值。对负载自适应。用于熔断器测试。

4）温升型  用于开关柜，母线槽等电器的温升试验 充电准备就绪测试：检查供电设备是否能检测到车辆准备就绪并启动充电。启动及充电阶段测试：在充电过程中，检查供电设备是否能通过PWM信号占空比告知其可供电能力。正常充电结束测试：检查供电设备在收到车辆停止充电指令时充电结束过程是否正常。充电连接控制时序测试本测试的目的是检查供电设备充电连接控制状态跳转和时间间隔是否满足要求。状态转换示意图如下图所示，充电时供电设备充电连接时序应满足GB/T18487.1-2015中A.4和A.5规定的要求。

功能特点：

1 采用进口0.23铁芯，电效率高铁心无气隙，叠装系数可高达95％以上，铁心磁导率可取1.5～1.8T（叠片式铁心只能取1.2～1.4T），电效率高达95％以上，空载电流只有叠片式的10％。

2  采用环形设计。体积小重量轻，环形变压器比叠片式变压器重量可以减轻一半.

　3 磁干扰较小环形变压器铁心没有气隙，绕组均匀地绕在环形的铁心上，这种结构导致了漏磁小，电磁辐射也小，无需另加屏蔽都可以用到高灵敏度高准度的电子设备上采用  的仪表放大器价格通常比较贵，于是我们就想能否用普通的运放组成仪表放大器？答案是肯定的。使用三个普通运放就可以组成一个仪用放大器。电路如下图所示：标准三运放仪表放大器电路输出电压表达式如图中所示。看到这里大家可能会问上述表达式是如何导出的？为何上述电路可以实现仪表放大器？下面我们就将探讨这些问题。在此之前，我们先来看如下我们很熟悉的差分电路：用单运放实现仪表放大器的差分放大器电路功能框图如果R1＝R3，R2＝R4，则VOUT=(VIN2—VIN1)(R2/R1)这一电路提供了仪表放大器功能，即放大差分信号的同时共模信号，但它也有些缺陷。

4  采用0.2级数字式真有效值电流表显示，准度高。而且无需外附标准CT及其他附件，简洁直观。  

5 采用0.2S级高准度电流互感器，保证电流信号的线性度和高准度输出.

6 内置高准度毫秒计。满足时间高准度测试的需要。           

CPU、IC和风扇用电量很大，而且是动态耗电的，瞬时电流可能很大，也可能很小，但是电压必须平稳(即纹波和噪声必须较小)，以保持CPU和IC的正常工作。这都对电源的平稳性提出了很高的要求。所有的数字示波器都使用衰减器和放大器来调整垂直量程。设置衰减以后示波器本身的噪声会被放大。测量噪声时应尽可能使用示波器灵敏的量程档。但是示波器在灵敏档下通常不具有足够的偏置范围可以把被测直流电压拉到示波器屏幕中心范围进行测试，因此通常需要利用示波器的AC耦合功能把直流成分滤掉只测量AC成分。技术参数：                        

输入电源：AC 220V /380V  50HZ             

电流输出：0－ 1000A        准度：0.5或0.2  分辨率：0.01A

电流输出：1000－ 5000A     准度：0.5或0.2  分辨率：0.1A

电流输出：5000－ 10000A    准度：0.5 或0.2 分辨率：1A

电流输出：10000－50000A    准度：0.5 或0.2 分辨率：1A

输出端开口电压：≥6V

时间测试：0.001S－9999.999S  分辨率：0.001S

直流电源用途标准CAN总线各节点质量的不一致引发的系统瘫痪、错误、死机等问题，CAN一致性测试已成为保证CAN网络安全运行的重要手段，本文将对CAN总线一致性测试中的容错性测试进行介绍。CAN一致性测试内容，覆盖了物理层、链路层、应用层等测试需求，容错性能的测试主要是在物理层面，通过地线漂移、地线丢失、电源丢失、CAN线中断、CAN线各短接到地、CAN线各短接到电源、CAN线短路等错误状态模拟，对被测节点和系统工作情况、恢复时间进行整体的考察。半导体材料研究和器件测试通常要测量样本的电阻率和霍尔电压。半导体材料的电阻率主要取决于体掺杂，在器件中，电阻率会影响电容、串联电阻和阈值电压。霍尔电压测量用来推导半导体类型(n还是p)、自由载流子密度和迁移率。为确定半导体范德堡法电阻率和霍尔电压，进行电气测量时需要一个电流源和一个电压表。为自动进行测量，一般会使用一个可编程开关，把电流源和电压表切换到样本的所有侧。A-SCS参数分析仪拥有4个源测量单元(SMUs)和4个前置放大器(用于高电阻测量)，可以自动进行这些测量，而不需可编程开关。