OPTM 系列显微分光膜厚仪

高速相位差测量装置 RE-200

高速LED光学特性仪 LE series

高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE-5000

高感度分光辐射亮度计 HS-1000

量子效率测量系统 QE-2100

膜厚量测仪 FE-300

膜厚测量系统 FE-3700/5700

线扫描膜厚仪（离线型）

线扫描膜厚仪（在线型）

紫外分光配光测量系统

紫外分光辐射照度测量系统 New