线扫描膜厚仪(离线型)

线扫描膜厚仪(离线型)

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-11-08 13:59:55
239
产品属性
关闭
上海波铭科学仪器有限公司

上海波铭科学仪器有限公司

高级会员4
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

●全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

●硬件&软件均为创新设计

●作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

●实现高精度测量(已取得专zhuan利)

●实现高速测量(500万点以上/分)

详细介绍

产品信息

式样

线扫描膜厚仪(离线型)

测量案例

250mm宽的薄膜案例

 








上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。

上一篇:偏振片在不同场合中的应用 下一篇:化学发光成像系统的安全注意事项有哪些?
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :