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INT05-N 迈克尔逊 PLX 单片干涉仪 (NIR FTIR 光谱仪的主要光学组件)
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超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm)
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超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm)
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BladeCam2-HR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
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FS70-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 可调光通比 C-mount接口)（观察仪）
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CUBE-ER100偏振消光比测试仪
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FS70Z-TH 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 C-mount) （观察仪）
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BladeCam2-HR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150nm
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BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
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Atik VS系列 CCD高分辨率长曝光工业相机 (1460 x 1932)
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FS70L4 用于半导体检测显微镜（显微OCT扫频测振）
面议DUMA光电激光分析自准直仪利用最新的成像技术为我们提供集聚焦自准直仪和光束轮廓仪于一体的专用仪器。自准直仪将准直仪和光束轮廓仪的功能组合在一个单元中。我们的精密激光器分析自准直仪（LAAC）将自准直仪的功能与激光束轮廓相结合产生入射激光束的精确角度定向及其发散角的测量。为了增加功能性，该系统在滑动尺上内置5xND(ND2, ND64,ND200, ND1000, ND100000)过滤器，显著增加了系统的动态范围。过滤器覆盖VIS范围，用于633nm波长的激光器。我们的精密LAAC具有内置调整功能，例如：快速对准激光，调整云台旋钮以及启用的增强校准程序。自准直仪应用是测量反射镜相对于自准直仪光轴的角度
产品特点
用于检测和测量小角度偏差
0.01秒分辨率
动态范围大
内置激光器用于粗对准
功能齐全的软件套件允许您记录和记录您的测量结果
通过USB端口连接到计算机
精心设计的全合一装置
产品应用
LAAC的应用主要涉及到小角度信号的检测和测量
位移。例如：
入射激光束的测量。
镜面角度的测量。
相对于激光方向的机械轴测量。
激光束轮廓和发散角的测量。
直线工作台的直线度测量。
旋转阶段的表征。
楔角、棱镜角和多边形角的测量。
反射面平行度的测量。
表面平整度的测量。
光学装置的校准。
机器校准。
CD/DVD ROM对齐。
热稳定性测量。
振动分析。
瞄准孔瞄准
技术参数
结构图示：
原理图示：
尺寸信息：
