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INT05-N 迈克尔逊 PLX 单片干涉仪 (NIR FTIR 光谱仪的主要光学组件)
面议超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试,光敏面:15.3×12.2mm)
面议超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试,光敏面:10.8×8.7mm)
面议BladeCam2-HR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
面议FS70-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 可调光通比 C-mount接口)(观察仪)
面议CUBE-ER100偏振消光比测试仪
面议FS70Z-TH 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 C-mount) (观察仪)
面议BladeCam2-HR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150nm
面议BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
面议BladeCam2-XHR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
面议Atik VS系列 CCD高分辨率长曝光工业相机 (1460 x 1932)
面议FS70L4 用于半导体检测显微镜(显微OCT扫频测振)
面议无线式光电自准直仪658nm
(Wireless Electronic Autocollimator)光电自准直仪是一种测量反射镜片的微小转角的设备。通过不同的安装方法,可以对机 械部件和导轨的直线度、垂直度、平行度、平面度、转角等进行高精度测量。 瑞荧仪器的 WECL100 光电自准直仪采用了全新的设计理念,尺寸小巧。 采用了内置电池和无线连接方案,一方面可避免线缆应力对测量的干扰,另一方面方便 用户在调装过程中,随时通过手机或平板电脑读取结果。
技术参数
自准直仪,是一种利用光的自准直原理将角度测量转换为线性测量的一种计量仪器。它广泛用于小角度测量、平板的平面度测量、导轨的平直度与平行度测量等方面。它是一种利用光的自准直原理测量平直度的仪器。当狭缝光源位于物镜的焦平面上时,光线将通过物镜折射为平行光束,再经由一垂直于光轴的平面反射镜将光束循原路反射回来。若是平面反射镜有偏斜,则放射光束聚焦后成的像,将偏离狭缝光源的原始位置。通过目镜读数,可测出反射镜对光轴垂直面的微小倾角。其内部结构如下图所示:
自准直仪内部结构图。
图中激光光源自2处狭缝释放,经3处分光棱镜反射后,通过1处透镜得到准直光输出。准直输出光被远处的反射镜反射回系统内部,并在CCD上成像。如果反射镜*垂直光束,CCD上的成像点将会出现在正中央,表明反射镜相对光束的角度正好为90°,如果CCD上的成像点有一些偏离,表明反射镜相对光束的角度距离*90°有一点偏差。
筱晓光子的这款光电自准直仪采用了全新的设计理念,尺寸小巧,高性价比。它采用了内置电池和无线连接方案,一方面可避免线缆应力对测量的干扰,另一方面方便用户在调装过程中,随时通过手机或平板电脑读取结果。
设备外部交互示意图
它可以测量10 m以内的镜面平面度,量程为±3.5 mrad,准确度不大于±5 urad。打开自准直仪和配套的平板热点,启动自准直仪APP后,等待自准直仪自动连接。当界面上显示connected后,用一片金属反射镜将准直输出光原路返回,便可以实时监测反射镜的垂直度。