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INT05-N 迈克尔逊 PLX 单片干涉仪 (NIR FTIR 光谱仪的主要光学组件)
面议超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试,光敏面:15.3×12.2mm)
面议超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试,光敏面:10.8×8.7mm)
面议BladeCam2-HR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
面议FS70-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 可调光通比 C-mount接口)(观察仪)
面议FS70Z-TH 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 C-mount) (观察仪)
面议BladeCam2-HR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150nm
面议BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
面议BladeCam2-XHR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
面议Atik VS系列 CCD高分辨率长曝光工业相机 (1460 x 1932)
面议FS70L4 用于半导体检测显微镜(显微OCT扫频测振)
面议FS70Z 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 固定光通比50/50 C-mount) (观察
面议(Polarimeter for broadband deep UV (DUV) & EUV / XUV light )
深紫外和极紫外范围内的旋光仪具有科学应用。我们提供的旋光仪系统可提供数百个垂直取向偏振方向的消光比。旋光仪可根据您的应用需求进行定制。旋光仪系统设计紧凑,全符合 UHV 等级。
用于宽带深紫外 (DUV) 和 EUV / XUV 光的旋光仪(偏振仪),用于宽带深紫外 (DUV) 和 EUV / XUV 光的旋光仪(偏振仪)深紫外、极紫外和软 X 射线波长的旋光法
宽带宽上的高消光
为您的应用定制设计
多通道设计
真空兼容(UHV 级)
占地面积紧凑
宽带EUV辐射源的偏振测量,如飞秒IR激光脉冲(HHG)或激光等离子体EUV源的高次谐波
EUV椭圆测量或双折射磁性纳米结构的研究
旋光仪可用作起偏器和检偏器