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INT05-N 迈克尔逊 PLX 单片干涉仪 (NIR FTIR 光谱仪的主要光学组件)
面议超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试,光敏面:15.3×12.2mm)
面议超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试,光敏面:10.8×8.7mm)
面议BladeCam2-HR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
面议FS70-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 可调光通比 C-mount接口)(观察仪)
面议FS70Z-TH 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 C-mount) (观察仪)
面议BladeCam2-HR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150nm
面议BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
面议BladeCam2-XHR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm
面议Atik VS系列 CCD高分辨率长曝光工业相机 (1460 x 1932)
面议FS70L4 用于半导体检测显微镜(显微OCT扫频测振)
面议FS70Z 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 固定光通比50/50 C-mount) (观察
面议总览
CUBE-ER100是一款基于旋转偏振器的偏振消光比(PER)测量仪,适用于光纤和自由空间光学应用。由于其紧凑的尺寸和高达每秒50点的快速测量速度,它可以很容易地集成到保偏光纤自动对准系统中。
产品特征
高PER(>52dB)
适用于DFB和ITLA激光器
一个单元覆盖600nm~1600nm
光纤阵列、MPO和准直器配件
可测试自由空间光源偏振消光比
适用于高功率激光器
产品描述
它有一个用于远程控制的全速USB 2.0端口,一个用于不同CUBE之间互连的UART端口,两个用于PM光纤自动对准系统闭环控制的模拟输出,以及两个用于测量和控制同步的通用TTL输入/输出。CUBE-ER100可以与偏振Max. 化立方体CUBE-PM100配合使用,在不拼接直列偏振器和PM连接器的情况下,对PM光纤卷轴、线圈和组件进行快速准确的PER和角度测量。
CUBE-ER100模块有一个FC适配器作为默认输入;其他输入配件可用于SC和LC连接器、PM准直器、光纤阵列、PIC芯片、自由空间平行光束和自由空间点光源。CUBE-ER100模块还可以堆叠,以同时测量永磁耦合器、永磁分路器、铌酸锂IOC等的多个输出。