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汞CV测试MCV测试仪
是一款汞探针CV自动图形扫描测量系统。它使用高频CV测量分析系统，可以对75mm、100mm、125mm、150mm、200mm（以及300mm）直径的测试片进行测量和自动成图。该系统采用汞探针设计，从而允许测试片正面朝上，相比于传统的汞探针测试系统将测试片正面朝下吸附在样品台上而言，该设计能够避免在成图测量时的表面沾污和破坏。 参考价面议 -
ECV测试电化学cv测试仪
电化学EC-V剖面浓度测试仪可高效、准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布。选用合适的电解液与材料接触、腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制。 参考价面议 -
光电少子寿命测试仪
非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪，方阻测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法高低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，涡流法电阻率探头和PN探头测试仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，晶圆、硅片厚度测试仪，表面光电压仪JPV\\SPV。为碳化硅、硅片、氮化镓、氧化镓、衬底和外延厂商提供测试和解决方案。 参考价面议 -
非接触方阻测试仪
非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪，方阻测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法高低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，涡流法电阻率探头和PN探头测试仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，晶圆、硅片厚度测试仪，表面光电压仪JPV\\SPV。为碳化硅、硅片、氮化镓、氧化镓、衬底和外延厂商提供测试和解决方案。
凭借先进的技术和丰富的产品线，已发展成为中国大陆少数具有一定国际竞争力的半导体专用设备提供商， 参考价面议 -
霍尔迁移率测试仪
非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪，方阻测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法高低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，涡流法电阻率探头和PN探头测试仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，晶圆、硅片厚度测试仪，表面光电压仪JPV\\SPV。为碳化硅、硅片、氮化镓、氧化镓、衬底和外延厂商提供测试和解决方案。 参考价面议 -
全自动非接触电阻率方阻测试仪
涡流法电阻率方阻是一种利用电磁感应原理进行检测的方法。当载有交变电流的试验线圈靠近导体工件时，会产生交变磁场，进而在工件中感生出密闭的环状电流，即涡流。涡流的大小、相位及流动形式受到工件性质（如电导率、磁导率、形状、尺寸）及有无缺陷的影响，通过仪器测量这些变化可以判断工件的性质和状态。 参考价面议 -
非接触电阻率测试仪
设备主要利用涡电流测试原理，非接触测试半导体材料，石墨烯，透明导电膜，碳纳米管，金属等材料的方阻（电阻率）。
可实现单点测试，亦可以实现面扫描的测试功能，可用于材料研发及工艺的监测及质量控制 参考价面议 -
PN型测试仪仪
可以测试硅片PN型号、硅片厚度也是影响生产力的一个因素，因为它关系到每个硅块所生产出的硅片数量。超薄的硅片给线锯技术提出了额外的挑战，因为其生产过程要困难得多。除了硅片的机械脆性以外，如果线锯工艺没有精密控制，细微的裂纹和弯曲都会对产品良率产生负面影响。超薄硅片线锯系统必须可以对工艺线性、切割线速度和压力、以及切割冷却液进行精密控制。 参考价面议 -
迁移率少子寿命测试仪
晶圆电阻率测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪， 参考价面议 -
涡流法电阻率测试仪
晶圆电阻率测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，测试硅片、碳化硅、氮化镓等材料。 参考价面议 -
晶锭方阻电阻率测试仪
晶圆电阻率测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，为晶圆、碳化硅、硅片、封装测试等生产和品质监控，提供一整套完整测试和解决方案。 参考价面议 -
硅片方阻电阻率
晶圆电阻率测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，为晶圆、碳化硅、硅片、封装测试等生产和品质监控，提供一整套完整测试和解决方案。 参考价面议