GP200探针台让您的芯片测试更加简单

GP200包含DC~THZ测试所需的完整配置， 能够在短时间内准确地完成测试要求。 提供专业的测试方案，能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。

l 机台可轻松实现DC ~ THZ测量。

l 提供芯片级I-V / C-V低噪声测试系统方案。

l 优异的三轴设计，保证I-V测试漏电精度达到f ji级。

l 多孔吸附式载物台设计，更好地兼容薄晶圆固定。

l 高品质显微镜搭配高分辨率CCD系统，可直观了解扎针情况，提高扎针的准确性和效率。

l 可升级的高低温系统，为芯片提供更加成熟稳定的老化测试环境。

l 紧凑且可靠的机械设计，更适用于芯片的测试及建模系统升级。

l 能够根据未来需求，可提供多种升级模块，轻松实现探针台功能升级。

l 短轴式拉杆设计，将更加符合新一代芯片系统测试的需求。拉杆在任意位置可停留、极限位置能快速锁定、分离位可固定，将进一步防止误操作，提高测试效率，节省成本。