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BeamMap2 XYZΘΦ 扫描狭缝光斑分析仪
产品特点:
190至1150 nm,硅探测器
650至1800 nm,InGaAs检测器
1000至2300或2500 nm,InGaAs(扩展)检测器
光束直径〜100 µm至〜3 mm(扩展的InGaAs为1.5 mm)
实时±1 mr实时散度和指向测量精度
USB 2.00.1 µm采样和分辨率
实时多Z面扫描狭缝系统
实时XYZ轮廓,焦点位置
实时M²,发散,准直,对准
产品参数:
波长 | Si detector: 190 to 1150 nmInGaAs detector: 650 to 1800 nm Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm |
可测光斑尺寸 | Si detector: 5 µm to 4 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode InGaAs detector: 10 µm to 3 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode InGaAs (extended) detector: 10 µm to 2 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode |
平面间距 (4XY) | 100 µm: -100, 0, +100, +400 µm 250 µm: -250, 0, +250, +1000 µm500 µm: -500, 0, +500, +2000 µm750 µm: -750, 0, +750, +3000 µm |
平面间距 (3XYKE) | 50 µm: -50, 0, +50, 0 µm 100 µm: -100, 0, +100, 0 µm |
光斑束腰直径测量 | Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat 1/e ² (13.5%) widthUser selectable % of peak Knife-Edge mode* for very small beams |
光斑束腰位置测量 | ± 20 µm best in X, Y, and Z — contact DataRay for recommendation |
可测光源 | CW; Pulsed lasers, F µm = [500/(PRR in kHz)] |
分辨率/精度 | 0.1 µm or 0.05% of scan range |
M² 测量 | 1 to > 20, ± 5% |
发散角/准直,指向性 | 1 mrad best — contact DataRay for recommendation |
最da功率 & 辐照度 | 1 W Total & 0.5 mW/µm² |
增益范围 | 1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range |
显示图形 | X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16 |
更新速率 | ~5 Hz |
XY轮廓和质心 | Beam Wander display and logging |
电脑硬件要求 | Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port |
BeamMap2 XYZΘΦ 扫描狭缝光斑分析仪
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