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EM-09100IS离子切片仪用于TEM、STEM、SEM、EPMA和AUGER样品制备的创新方法：制备薄膜样品除了需要将样品切成矩形薄片外，不需要溶剂或化学试剂及前处理（打磨或凹坑研磨），比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6°）的氩离子束通过遮光带照射样品，大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也好，对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。
EM-09100IS离子切片仪的主要特点:高质量的透射电镜样品的前处理快速制备无需复杂的前处理。
1.度的表面损伤。
2.高质量的透射电镜样品的前处理。
3.快速制备。
4.无需复杂的前处理。
5.最小限度的表面损伤。
