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高度测量显微镜显微镜结合了金相显微镜的高倍观察能力，和影像测量仪的 X、Y、Z 轴 表面尺寸测量功能，具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能。 可广泛应用于半导体、PCB、LCD、手机产业链、光通讯、基础电子、模具五金。它配备了操作简单，功能强大的测量软件，客户可根据需要设置测试偏好。软 件附带了各类手动取点与自动取点的测量功能，适功能高度集成的一体式设计使用范围更广，即使对复杂的形状，也可以进行高精度测量。
TOCK-M50-H高度测量显微镜软件功能：
能够抓取很弱的边缘，可任意设定寻边方向，避免寻边错 误，灵活设置寻边参数，去除杂点及毛边的影响。
（1）软件根据用户测量步骤顺序自动编制用户程序。并控 制程序的运行停止等。
（2）可以对用户程序及每一个步骤进行编辑、排序、插入、 删除等操作，适应各种复杂多变的测量步骤。
（3）测量大批量工件时，只需进行一次寻边测量，避免重 复动作，省时省力。
产品技术参数：
测量范围 | 200*100 | 200*200 | 300*200 | 400*300 |
光学系统 | 无限远光学系统 | |||
成像方式 | 5°～35°倾角可调，正像，无限远铰链三目观察筒，瞳距调节范围：50MM～76MM； | |||
倒像，无限远铰链三目观察筒，瞳距调节范围：50MM～76MM； | ||||
正像，无限远铰链三目观察筒，瞳距调节范围：50MM～76MM； | ||||
目镜 | 高眼点大视野平场目镜10X，视场直径23MM，可视度可调，可带测微尺； | |||
物镜 | 无限远长工作距半复消色差明场金相物镜5X、10X、20X、50X、100X | |||
无限远长工作距半复消色差明暗场金相物镜5X、10X、20X、50X、100X | ||||
无限远长工作距全复消色差明暗场金相物镜10X、20X、50X、100X | ||||
无限远超长工作距高分辨率全复消色差95MM可见光APO金相物镜2X、5X、10X、20X、50X、100X | ||||
放大倍率 | 光学：50X-1000X | 影像：135X-2700X | ||
转换器 | 5孔手动转换器（带DIC插槽） 5孔自动转换器（带DIC插槽） | |||
照明系统 | 明暗场反射照明器，带明、暗场照明器切换装置，带滤色片插槽与偏光装置插槽，5WLED灯源，5WLED透射光源，亮度均可调 | |||
明场反射照明器，带滤色片插槽与偏光装置插槽，5WLED灯源，5WLED透射光源，亮度均可调 | ||||
辅助对焦模块，带明、暗光楔切换装置，带绿光5W LED灯源 | ||||
调焦方式 | 手动粗微调，粗微调同轴，左右手柄 | |||
相机 | 像素1200万，靶面尺寸：1/1.8，4000(H)×3000(V)，最大帧率：20 FPS | |||
测量精度 | （2.5+L/200）μm | |||
产品结构 | 铸铁，大理石 | |||
