hast高压加速老化试验箱设备特点：

1)采用进口耐高温电磁阀双路结构，降低了使用故障率。

2)独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。

3)门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

4)试验前排冷空气；试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

5)超长效实验运转时间，长时间实验机台运转400小时.

6)水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.

7)tank耐压设计，箱体耐压力(150℃)2.65kg，符合水压测试6kg.

8)二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.

9)安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮 .

10)偏压测试端子耐压可达3000V(选配）

11)USB导出历史记录数据，曲线.

hast高加速试验箱（Highly Accelerated Stress Test）是一种用于进行电子元器件可靠性测试的设备，主要用于模拟高温高湿条件下的加速老化环境，以评估元器件在恶劣条件下的可靠性和耐性。

hast高加速试验箱通过提供高温高湿环境以及一定的电气应力，加速电子元器件的老化过程。它采用高压饱和蒸汽的方式，将样品暴露在高温高湿条件下，并施加一定的电压或电流，以模拟真实环境中的潮湿条件和电气应力。

在HAST高加速试验中，样品通常被放置在密封的试验室中，试验箱具备温度、湿度和压力等参数的控制功能。通过加速老化过程，可以更快地观察到可能出现的故障和退化现象，以便制造商及早发现并改进产品设计和生产工艺。

HAST高加速试验箱广泛应用于电子元器件、半导体芯片、集成电路等领域的可靠性测试中。通过该设备，可以评估产品在恶劣环境下的性能和寿命特性，从而提高产品质量、可靠性和稳定性，满足市场需求和用户期望。