恩智超高采样率超级电容容量内阻测试仪N5800系列简介

同系列型号：N5800A-05051 N5800A-05051D N5800A-05101 N5800A-05201 N5800A-05301

N5800超高采样率容量内阻测试仪为NGI公司针对超级电容、电池研发和生产而自主设计开发的专用测试仪器。N5800采样速度高达1mS，充转放过程无缝切换，超级电容、电池充电容量、放电容量、充电等效串联内阻、放电等效串联内阻、能量转换效率、循环寿命等电气参数进行高精度测试测量。N5800支持六步法，IEC62391，QC/T 741等全部主流测试标准，用户可根据需要灵活选择。N5800上位机软件支持平台化测试应用，用户可根据测试工艺和测试流程自行定制测试文件，测试结果可方便存储和导出。导出格式可支持数据库、EXCEL、JPG文件。

产品特点

■  电压范围：0-5V；

■  量程范围：0-50A/100A/200A/300A/400A/500A/600A/800A/1000A；

■  恒流充电、恒流放电、恒压充电、循环寿命、充电容量、放电容量、 DCIR（直流等效内阻）等参数测试；

■  充转放无缝切换，无过充过放；

■  采样&通讯传输间隔高达1ms，真实还原测试过程数据；

■  功能丰富的上位软件，支持生产分选功能；

■  每通道对应状态指示灯，分选更方便；

■  强大的数据存储与分析功能；

■  百兆以太网通讯；

功能与优势

容量测量

N5800可测量超级电容容量参数，含充电容量和放电容量。测试方法为： 对被测超级电容以恒定电流进行充（放）电，在充（放）电过程中记录时 间和电压参数，通过计算充（放）电过程中电压对时间的斜率计算容量。 用户可根据IEC等各种测量标准自行选择电压、时间参数进行计算。

等效串联内阻(DCIR)测试

N5800具有丰富的直流内阻测量功能，支持业内多种主流DCIR测试方法： 多脉冲法、单脉冲法、充转放法、六步测试法、IEC测试法，可满足绝大部分用户测试需求。NGI核心测试技术确保在各种测试方法中获取高精度内阻测量结果。

寿命测试

N5800可通过重复充放电循环测试，测量超级电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线，用户可获取超级电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。

四线制测量功能

超级电容测试过程中需要输出较大电流，测试线将会引入较大电压降（线损），影响测量精度。N5800全系列型号均采用四线制接线方式，直接采集超级电容两端电压而避免因测试线线损带来的电压误差，从而确保测量精度

充转放过程无过充，响应速度快

采用精密的设计电路，保证充放电过程快速，精确。充电过程中恒流充点转恒压充电无过充，能保护被测产品，防止由于过程导致测试结果不准或样品损毁等情况。恒压充电转恒流无缝切换，结合1ms高速采样，真实还原出产品测试过程，满足用户测试QC/T741、六步法、充转放法对直流等效内阻（DCIR）的测试要求。

测试软件

(1) N5800测试软件采用平台化设计，用户可根据工艺需求自行定制测试流程。
(2) 类Office界面风格，各通道独立显示，支持电压电流波形绘制，可以表格形式显示结果等诸多元素，使得这款专业软件在具备强大测试功能同时，兼具美观易用优点。
(3) 设计有功率限制电路，反应时间极短，可有效保护负载不会因为过功率而损坏。
(4) 采用全屏蔽技术，对恶劣测试环境具有广泛适应性，有效提高了负载抗干扰能力。

恩智超高采样率超级电容容量内阻测试仪N5800系列应用领域