Data-Pixel-干涉仪-DAISI-V3

产品型号：DAISI-V3

产品介绍：用于测量单光纤连接器端面几何形状的干涉仪，配备革命性的“无外部移动部件”机械设计。该装置结合了 x400 显微镜和干涉仪，以便在很短的时间内控制抛光后的连接器。借助 Blink 软件，操作员可以以简单的方式生成定制控制报告。DAISI-V3 兼容行业测量标准。

性能特点：

PC和APC连接器、套圈和裸光纤的测量

真相移干涉仪

非接触测量

智能自动对焦，仅在需要时对焦

用于自动Apex校准的受控参考镜

坚固的电机驱动自动法兰锁定机构

轻松快速地从PC切换到APC，无需更换光纤支架

符合干涉仪测量的行业标准

直观的BLINK软件，具有数据库连接

兼容台式电脑、笔记本电脑、平板电脑

参数：

产地：法国

视野（mm）：0.7 x 0.5

扫描模式：红光和蓝光

半径（mm）：3至平面

顶点偏移（µm）：0至500

光纤高度（nm）：±160

光纤切割角度（度）：0到12

测量速度（秒）：1

放大倍数：X 400

输出：USB 3.0和USB 2.0

电源：外部12V

尺寸高x宽x长（mm）：133 x 171 x 244

重量（kg）：8.6