NITTO SEIKO/日本 品牌
经销商厂商性质
深圳市所在地
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面议NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量仪 MCP-S330
NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量仪 MCP-S330
特征
导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。
能够绘制最大300mm见方的样品并连续测量多个样品。
可连接到 Loresta GX 以测量 10-4 至 10+7Ω 范围
全自动测量、计算、数据处理和3D图形输出
要测量粉末的体积电阻率,只需将样品放入探头单元并将其放置在设备中即可。
该装置施加给定的压力,同时测量粉末的电阻率和压制密度。
该方法使得从新的角度分析粉末的特性成为可能。该设备可用于电子元件和材料的开发和质量控制。
测量目标
金属材料如金属粉末、金属氧化物、陶瓷等;碳材料如活性炭、炭黑、碳纳米管、石墨、石墨烯等。
二次电池电极、电容器、EV电机、线圈等电子部件材料
ITO粉体等薄膜原材料、导电浆料等电路板材料
墨粉相关的磁性材料,例如铁氧体
型号
MCP-T380
MCP-T710
MCP-PD600
ASR 探头RMH501
ESR 探头RMH502
LSR 探头RMH503
PSR 探头RMH504
BSR 探头RMH506
AR 探头RMH508
BR 探头RMH509
探头检查器RMH304
探头检查器RMH311
探头检查器RMH335
用途
Loresta-GXII是一款测量电阻率的测量仪器,电阻率是材料的评估标准之一。
随着科学技术的发展,在研发、生产技术、质量控制等领域,越来越需要能够轻松、快速、日益严格、高精度地管理材料。
其中,电阻率(表面、体积、电导率)是表示材料状态和性能的指标。
Loresta-GXII 是一种可以使用校正系数轻松准确地测量电阻率的设备。
该装置采用符合JIS K 7194的测量方法,可以使用各种探头测量导电塑料、ITO薄膜和硅晶片等多种材料。
与传统的4端子法不同,无需为测量对象准备电极,使用本公司提供的各种4点探头即可一键测量电阻率。
主要测量目标
导电塑料、电磁屏蔽材料、硅片、导电橡胶、
导电涂料、浆料、油墨、金属薄膜、ITO玻璃、薄膜等。
特征
可以随时随地以高精度测量低电阻区域的表面电阻率、体积电阻率(比电阻)和电导率。
与Loresta GP(10 -3至 10 7 )相比,测量范围从 10 -4扩大至 10 7 Ω
通过改变电流方向即可测量硅片
恒定电流可变功能(可使用微小电流进行样品测量)
可输出2000个测量结果至USB存储器
通过触摸屏提高操作性