小型高低温试验箱为元器件选型提供依据
一、产品用途
主要用于电子元器件的选型和测试，为电子产品的研发、生产提供可靠的环境模拟条件。通过对不同元器件在高低温环境下的性能测试，帮助工程师确定适合特定应用场景的元器件，提高电子产品的质量和可靠性。
二、技术参数
温度范围：通常可在 -40℃至 +150℃之间调节，满足不同电子元器件的测试需求。
温度波动度：±0.5℃以内，确保温度的精确性和稳定性。
升温速率和降温速率：根据不同型号和规格，升温速率可达 3℃/min 以上，降温速率可达 2℃/min 以上。
工作室尺寸：一般较小，便于安置在实验室或生产线，常见尺寸如 300mm×300mm×300mm 等。
小型高低温试验箱为元器件选型提供依据
三、产品特点
先进的温度控制系统：采用微电脑控制器，可精确控制箱内温度，实现多种温度变化模式，如线性升温、降温，阶梯式升温、降温等。
良好的保温性能：箱体采用双层结构，中间填充优质隔热材料，有效减少热量损失，确保温度稳定。
体积小巧：不占过多空间，方便移动和安置，适用于各种实验室和生产线环境。
安全可靠：具备超温保护、过流保护、漏电保护等多重安全保护功能，确保测试过程的安全。
操作简便：人性化的操作界面，易于设置和操作，同时可实时显示箱内温度和运行状态。
四、应用领域
广泛应用于电子、电器、通讯、计算机、汽车电子等行业，可对电阻、电容、电感、集成电路、半导体器件等各种电子元器件进行高低温测试。
