三箱冷热冲击箱

产品用途： 

  冷热冲击试验箱可用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适用的对象包括金属、汽车电子、橡胶、电工电子、IC芯片、LED照明、军工、航空航天等材料检测分析的重要仪器设备，测试结果可作为其产品改进的重要依据或参考。

二、结构设计

三箱式布局

由高温箱、低温箱和测试箱组成。高温箱采用耐高温的加热元件，能够快速达到并稳定维持设定的高温环境；低温箱配备高效制冷系统，可实现极低温度。测试箱用于放置航天设备样品，通过快速的风道切换系统，实现样品在极短时间内于高温和低温环境之间切换。

箱体材质

外壳采用优质冷轧钢板，表面经防锈处理后再进行静电喷塑，美观且耐用。内箱则选用不锈钢材质，具有良好的耐腐蚀性和热传导性，确保试验环境的稳定性。

三、技术参数

温度范围

高温区可达 +150℃ - +200℃，低温区可低至 -70℃ - - 80℃，能够满足绝大多数航天应用场景的温度模拟需求。

温度冲击速率

从高温到低温或从低温到高温的转换时间可控制在数分钟内，能逼真地模拟航天设备在轨道运行时的快速温度变化。

温度均匀性

在测试箱内，温度均匀度可达 ±2℃，保证航天设备各部位都能受到均匀的温度冲击。

四、控制系统

智能控制

采用先进的微电脑可编程控制系统，可预先设置多种温度冲击循环模式，操作界面直观简洁，便于技术人员操作。

数据记录与监控

具备高精度的温度传感器，能够实时监控并记录试验过程中的温度数据。同时，支持数据导出功能，方便用户进行后续的分析和存档。

三箱冷热冲击箱

满足标准

♦GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件

♦GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件

♦GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温

♦GB/T 2423.2-2001 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

♦GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化

♦GJB150.3-86 J用设备环境实验方法 高温冲击试验

♦GJB150.4-86 J用设备环境实验方法 低温冲击试验

♦GJB150.5-86 J用设备环境实验方法 温度冲击试验

♦GJB360.7-87 电子机电气元件试验方法 温度冲击试验