产品型号

TEM-APT Holder 电镜连用三维原子探针样品杆

1 、TEM-APT 样品杆：三维原子探针（3DAP）和透射电镜（TEM）是先 进的原子尺度表征手段。

主要特点

2、三维原子探针的结果不是“可视”的，需要通过数据重构再现。透射电镜能 提供“直接可视”的实验结果，但是结果是二维投影的，并且很难获得三维的  单个原子尺度的成分信息。基于它们各自的优势，我们开发了 3DAP-TEM 样品  杆，可以将原子探针（APT）试样直接加载到 TEM 样品杆上。

产品结构

（1）在 TEM 中直接观察 APT 试样上是否有令人感兴趣的区域，使样品检测工作效率增加；

（2）通过大角度倾转试样，获得不同角度试样的形貌结构特征，为 3DAP 数据重构提供帮

助；

产品作用

（3） TEM 观察过后的试样可以直接移到 APT 中继续实验。将 APT 结果与 TEM 图像相结合，有

助于优化重构参数，并使 3DAP 结果更具有可信度。

（4）在原子水平上获得了样品的组成和结构。

产品性能

（1）接受锥形电化学抛光的样品或聚焦离子束（FIB）制备的样品柱。

（2）允许 360°的图像采集和层析图像的重建，不会因楔子缺失而造成信息损失。

（3）样品可以很容易地从支架上取出，然后直接转移到 APT 机上进行进一步表征。

（4）兼容所有几何形状的极片间隙。