日本进口Akion激光光学干涉条纹分析装置  IFM  特点介绍

通过利用激光干涉仪观察到的干涉条纹图像，对抛光表面的表面精度和光学元件的透射波前精度进行量化和可视化，从而获得精度更高、更易于理解且有助于提高质量控制的产品。

新开发的IFM兼容最新的操作系统，通过引入新算法提高了测量精度，并具有满足各种需求的分析功能。这是一种操作简单、任何人都可以使用的干涉条纹分析装置。

日本进口Akion激光光学干涉条纹分析装置  IFM  规格参数

・使用图标操作，即使是初学者也能轻松进行测量

・通过引入图像处理技术，提高相位连接精度

・增加各种分析功能

→ 泽尼克系数：可以使用边缘泽尼克系数和标准泽尼克系数进行分析

→ 医疗记录青色系数：在正交坐标系和像差消除功能

→ 用户自定义功能分析：Zernike、PV、彗形像差、功率等计算功能

→ 相位数据计算功能：平均处理、2 球法、3 平面法

→ 异常自动消除功能图像（灰尘、划痕）

、PV值、RMS值、赛德尔像差（球面/慧差/长宽比）、3D（鸟瞰图）、2D（轮廓图）、截面分析等。

[配置项目]

IFM干涉条纹分析软件、移相器（压电驱动方式）、控制驱动器（移相器驱动、图像数据A/D转换等） PC、计算机架

[分析项目]

PV值、RMS值、鸟类眼睛视图、轮廓线图、横截面视图、赛德尔像差

ISO 兼容：IRR（Ascuse）、RSI（质量）

Zernike 系数：Fringe Zernike（36 项）、Standard Zernike（45 项）

用户定义函数、频率分析、

【分析像素标准】640×480像素（特殊订单：300万像素）

【等级】 10bit

【电源】 AC100V 50/60Hz 2A