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日本Risogkn超声波焊接装置高性能高品质
¥6560Napson纳普森手持探针电阻测试仪无损检测仪
¥26100Napson手持式电阻测试仪用于半导体处理膜等
¥25800纳普森Napson无损测量手动电阻测试仪检测仪
¥26800Napson日本进口无损涡流法电阻测试仪手持式
¥26200日本Napson非接触式电阻率计便携式测试仪
¥25800日本Napson手持式探针无损测量电阻测试仪
¥26800日本kett外观分析设备检测精米糙米白度计进口
¥12300日本KETT白度计精米/糙米检测仪分析设备
¥12300凯特kett白度计精米、糙米外观分析仪检测器
¥11800日本kett外观分析仪器检测玄米、精米白度计
¥12300KETT凯特糙米精米检测仪白度计快速分析设备
¥12900日本oji-keisoku便携式椭圆偏振仪测量装置 PAM-PTB100 特点介绍
本装置是测量通过平板等偏振板射出的光的偏振状态的装置。一次测量6波长的椭圆率(a/b)和椭圆方位角(Ψ)。测量部和控制器分离,可在任意状态下进行测量。
■特点
测量方式
旋转分析仪方式
测量面积
面板等自然发光物体的
测量项目
椭圆度、椭圆方位角
日本oji-keisoku便携式椭圆偏振仪测量装置 PAM-PTB100 规格参数
测定对象通过偏振板的光(平板等)测定项目椭圆率(a/b)、椭圆方位角(Ψ)测定波长450,500,550,590、650、700nm样品尺寸□40mm以上系统结构测量装置主体、笔记本电脑(OS:Windows 7)温湿度条件10~35°C、20~80%RH(但不结露)装置尺寸·重量测量头100(W)x 100(D)x 110(H)(mm)·1.5Kg控制器370(W)330(D)x 155(H)(mm)·10Kg电源AC100V~10%、50/60Hz
测定項目
偏光軸方位、配向角、位相差
测定対象
光学薄膜、偏振板
测定原理
旋转检光子法、平行二卷旋转法、正交二卷旋转方法
測定時間
约4秒(偏振轴测量)
测定波長
590nm(可选=450nm、630nm等)
样品尺寸
30mm~250mm,t=20mm以下
系统配置
测定装置主体、光源装置、笔记本电脑(Windows10)
主体尺寸
W380XH390 XD610 mm
本体重量
27kg