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PIPS Ⅱ 精密离子减薄仪

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2024-07-19 17:24:19: 77

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产品简介

精密离子减薄仪用于高质量透射电镜样品的制备，它可精确定位减薄位置并对工艺参数进行精确控制

详细介绍

精密离子减薄仪用于高质量透射电镜样品的制备，它可精确定位减薄位置并对工艺参数进行精确控制。

┃ 设备特点

使用 X、Y 样品台来把减薄区域精确定位到离子束交叉点
改进低电压性能的离子枪，有用电压低至 100 伏，从而快速安全地对 FIB 制备的TEM样品进行抛光
利用 DigitalMicrograph 软件和光学数码显微镜进行图像存储和分析
10 英寸彩色触摸屏可用于显示和控制所有 PIPS II 参数

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