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日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜
¥17589日立电子显微镜聚光镜球差电镜
¥16857日立球差校正扫描透射电子显微镜
¥15876日立高反差型透射电子显微镜
¥15985日立台式扫描电子显微镜 维翰光电
¥15975HITACHI日立扫描电子显微镜 维翰光电
¥16858日立冷场电镜超高分辨率冷场发射电子显微镜
¥15679日立发射扫描电子显微镜 进口超高分辨电镜
¥15697日立Hitachi日立新型冷场扫描电子显微镜
¥15876日立电子显微镜高分辨大样品仓电镜
¥15875日立hitachi 高效液相色谱仪 经久耐用
¥16584日立高效液相色谱仪进口ROHS2.0分析仪
¥26548日本日立5500M全自动型原子力显微镜
日本日立5500M全自动型原子力显微镜
高度集成自动化功能追求高效率检测
降低检测中的人为操作误差
4英寸自动马达台
自动更换悬臂功能
大范围水平扫描
采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。
AFM5500M搭载了最新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。
Sample :Amorphous silicon thin film on a silicon substrate
高精角度测量
普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。
AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。
Sample : Textured-structure solar battery(having symmetrical structure due to its crystal orientation.)
*使用AFM5100N(开环控制)时
通过SEM-AFM的共享坐标样品台,可实现在同一视野快速的观察・分析样品的表面形貌,结构,成分,物理特性等。
The ovrlay images createed by using AZblend Ver.2.1, ASTRON Inc.
上图是AFM5500M拍摄的形状像(AFM像)和电位像(KFM像)分别和SEM图像叠加的应用数据。
通过分析AFM图像可以判断,SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。
石墨烯层数不同导致表面电位(功函数)的反差。
SEM图像对比度不同,可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。