AFM5100N-日立通用型原子力显微镜_原子力显微镜-玉崎科学仪器（深圳）有限公司手机版

详细介绍

日立通用型原子力显微镜

AFM5100N除了激光检测方式之外，xin的「自检测悬臂」，在高分辨表面形貌观察的同时，大大简化了AFM悬臂操作。 1. 简便的悬臂安装通常的悬臂是非常渺小而且很难操作，内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多，容易拿取，安装非常简单方便。 2. 不用调整激光光斑的自检测方式激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置，操作复杂，而采用自检测方式的「自检测悬臂」无

特点

1. 简便的悬臂安装

通常的悬臂是非常渺小而且很难操作，内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多，容易拿取，安装非常简单方便。

2. 不用调整激光光斑的自检测方式

激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置，操作复杂，而采用自检测方式的「自检测悬臂」无需调节激光光斑。

3. 精确的悬臂定位

悬臂的机械结构，能够以俯视方式直接观察悬臂的位置，从而轻松调整样品的测量的位置。除此之外，更加尖锐的探针提高了分辨率。

4. 方便的操作导航系统

通过流程图形式的导航系统，任何人都可以轻松地进行高分辨表面测量。另外，通过设定样品的软硬度和凹凸系数等参数，能够简单确定测量条件。

5. 紧凑的主机

主机上包含减震台、隔音罩、光学显微镜等附件，安装紧凑，体积小巧。

6. 优秀的扩展功能

通过激光检测方式，能够扩展各种各样的选配功能。另外，只要插拔一根电缆就能够切换成激光检测方式。

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