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T450plus系列高性能多用型XRF
涂镀层分析 | RoHS检测 | 元素分析 |
T450plus系列为满足生产管控和研发领域中高精度镀层厚度或精确材料成分分析而研制的一款多用型X荧光光谱仪，可为任何应用提供性能的仪器选择。
该系列仪器采用微聚焦增强型射线管和数字多道脉冲信号处理技术，同时搭载增强FP算 法软件与变焦装置，再加上高性能大面积探测器，无论在检测微小样品和凹槽的膜厚性 能，还是RoHS和元素分析方面，均具备出色的重复精度，这也是它广受客户、研究所等机构欢迎的原因。
技术参数
型号 | T450 plus | T450S plus |
成分分析检测 | S（16） - U（92） | Al（13） - U（92） |
涂镀层分析 | Li（3） -U（92） | |
ROHS检测 | 标配，检出限可达2ppm | 标配，检出限可达1ppm |
算法 | 增强型FP算法 | |
分析软件 | 可同时分析15层镀层，24种元素 | |
射线方向 | 从下往上 | |
X射线发生装置 | 微聚焦增强型射线管 | |
探测器 | 高性能Si-Pin半导体探测器 | FAST SDD探测器 |
高压 | 0-50KV智能程控高压系统 | |
准直器 | φ0.3mm(φ0.2mm)/φ0.5mm/φ3mm 多准自动切换 | |
样品观察 | 工业 CCD 高清摄像头 | |
对焦方式 | 手动对焦 | |
放大倍数 | 光学30-50X，数字放大40-160倍 | |
移动平台 | 微米级移动平台 | |
操作环境温湿度 | 10~35℃,湿度≤70% | |
工作电源 | 交流220±5V | |
安全系统 | 多维散热系统，多重辐射安全系统 | |
性能优势
高稳定微聚焦集成系统 | 采用自主研发设计的高稳定性微聚焦增强型射线管和聚焦光路系统，最小测量点可达0.25mm。 |
搭载高性能探测器
| 分辨率至129eV±5eV，能量线性和能量分辨率俱佳，具有更高的稳定性和精度。 |
高精度 | 含量检出限可达1ppm，厚度 检出限可达1nm。 |
变焦补偿算法 | 可对各种异形凹槽件进行无损检 测，凹槽深度范围 0-25mm。 |
使用寿命长 | 采用自主研发的多维散热系统，同时同样的测试面积功率更低，整机与 射线管使用寿命更长。 |
应用领域
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环保检测解决方案
欧盟ROHS指令-2011/65/EU | REACH指令 |
无卤指令[IEC61249-2-21] | 玩具En71指令 |
美国CPSIA消费品安全改进法 | IEC62321标准 |
China-RoHS国推自愿性认证 | GB/T26125-2011 |
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