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T300V下照式镀层测厚仪
T300V是佳谱仪器集多年X荧光光谱仪技术积累与镀层应用经验，专门设计研发的 一 款下照式结构的镀层测厚 仪，性价比高、适用性强。
该款采用的FP算法同时搭配高速数字多道技术， 应对各大小平面件、曲面件金属镀层及电镀液检测时检出 限低，性能稳定，检出限可达0.005um，是一款颇具客户 好评的C型腔体设计的实用型膜厚仪。
应用领域
配置，值得更优性能
相比图2普通接收器，T300V采用了更为的高分辨率探测器，能的将不同元素的信号准确 解析，针对单层、多层或复杂合金镀层的测量，测量精度更高，稳定性更好。
仪器参数
选择T300V的理由
检测实例
