金属多元素 X荧光光谱仪 下照式镀层测厚仪

镀层测厚T-300V金属多元素 X荧光光谱仪 下照式镀层测厚仪

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产地类别:国产;价格区间:面议;应用领域:化工,地矿,电子,电气,综合;
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产品属性
产地类别
国产
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面议
应用领域
化工,地矿,电子,电气,综合
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佳谱仪器(苏州)有限公司

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产品简介

T300V是佳谱仪器集多年X荧光光谱仪技术积累与镀层应用经验,专门设计研发的 一 款下照式结构的镀层测厚 仪,性价比高、适用性强。金属多元素 X荧光光谱仪 下照式镀层测厚仪

详细介绍

金属多元素 X荧光光谱仪 下照式镀层测厚仪 

T300V下照式镀层测厚仪

金属多元素 X荧光光谱仪 下照式镀层测厚仪

T300V是佳谱仪器集多年X荧光光谱仪技术积累与镀层应用经验,专门设计研发的 款下照式结构的镀层测厚 仪,性价比高、适用性强。

该款采用的FP算法同时搭配高速数字多道技术,  应对各大小平面件、曲面件金属镀层及电镀液检测时检出 限低,性能稳定,检出限可达0.005um,是一款颇具客户 好评的C型腔体设计的实用型膜厚仪。


应用领域

金属多元素 X荧光光谱仪 下照式镀层测厚仪

配置,值得更优性能

相比图2普通接收器,T300V采用了更为的高分辨率探测器,能的将不同元素的信号准确 解析,针对单层、多层或复杂合金镀层的测量,测量精度更高,稳定性更好。

金属多元素 X荧光光谱仪 下照式镀层测厚仪

仪器参数

金属多元素 X荧光光谱仪 下照式镀层测厚仪

选择T300V的理由

金属多元素 X荧光光谱仪 下照式镀层测厚仪

检测实例

金属多元素 X荧光光谱仪 下照式镀层测厚仪

镀层膜厚仪,简称为,镀层厚度检测仪,是用来专业测量,金镍,铜厚,等,镀层的厚度的标准仪器。检测镀层厚度也有一定要求,镀层厚度要求分散能力是具有比较性质,其比较的基准是初次电流分布。镀层厚度要求在零件上均匀分布的能力越高,该电镀溶液的分散能力就越好。所谓整平能力(即微观分散能力)是指在底层上形成镀层时,镀液所具有的

镀层厚度要求在阴极表面上分布的均匀性和完整性,是决定镀层厚度要求质量的一个重要因素,它在一定程度上影响着镀层厚度要求的防护性能。在电镀中常用分散能力和覆盖能力来分别评定金属镀层厚度要求在阴极上分布的均匀性和完整性。镀层厚度要求在零件上分布的完整程度。覆盖能力越高,镀得越深,覆盖能力差,在零件凹处就镀不上金属镀层厚度要求。 镀液的分散能力与覆盖能力的含义不同,要注意区别,不要混淆。在具体定量表达分散能力与覆盖能力的数值时,一定要指明测定方法,不同方法的测量结果是难以比较的。工艺研究时从文献中看到,锌铁合金镀层铁含量1% 以下为低铁工艺,最佳值是0.4%。本工艺属于低铁工艺,文章最初发表时没有明确含量数据,只是根据铁盐含量计算出不会超出1%,后来在生产应用中,将8~12 g/L铁盐质量浓度分8 g/L,10 g/L和12 g/L 3个档次,以紫铜片作样件镀出的合金镀层,经测试镀层铁含量分别是8 g/L为0.34%,10 g/L为0.44%,12 g/L为0.16%,

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