锁相红外显微成像系统的测量过程是通过调制施加的电流或电压，利用视频锁相算法来达到降低背景噪声的目的。利用这个技术，器件的失效点可非常准确地被定位。
锁相红外显微成像系统是一款非破坏性电性故障定位设备，它可以直接快速地透过IC正面或背面来找出缺陷所在位置。它利用高灵敏度的中(长波)红外探测器在IC通电情况下探测缺陷位置热辐射的分布，以此定位失效点，是实验室研发、检测、IC产品设计、电路失效分析领域的理想失效分析工具。
该系统将锁相技术和热成像技术结合,具有高达1mk的超高温度分辨率,非常适合漏电流检测,PCBA短路热点失效分析和IC器件缺陷定位,远远超过传统的温度探测器如热敏电阻、热电偶、RTD之类的测温能力。
本公司提供的LUXET Thermo 50是一款基于非制冷红外相机的锁相红外显微成像系统。配备了电动垂直运动系统、高帧频长波红外相机、广角镜头与显微镜头、高压源表，可以适用于封装器件、电路板等多种不同种类器件的失效点定位。
