在武汉很多芯片企业，在封装车间使用高倍金相自动测量显微镜来检测芯片尺寸公差，其常见的成像参数是基于无限远光学系统设计的。为客户在检测过程中带来了高质量的成像。让测量员在细微的检查点中，轻松识别测量位置。这类物镜在无限远处形成图像，是通过在物镜与目镜之间的主镜筒中巧妙地设置镜筒透镜，构建了一个能够形成中间图像的光学系统。无限远光学系统的好处在于，它允许光线在穿过物镜后，与光轴平行的部分能够在所谓的“无限空间”中自由、有效地传播至镜筒透镜。这一特性使得在无限空间内灵活添加各种辅助组件成为可能，比如微分干涉对比(DIC)棱镜、偏振镜等，从而在不影响焦点和像差校正的前提下，极大地丰富了显微镜的功能性和实用性。
（图片中物镜有∞符号的及为无限远光学系统）
其原理在于，通过将物镜的像方焦点设计在无限远，不仅简化了光路设计，还提高了系统的灵活性和扩展性。未来，随着光学技术的不断进步，无限远光学系统有望在显微镜领域实现更广泛的应用，比如更高分辨率的成像、更精细的样品分析等，进一步推动显微镜技术的革新与发展。
除了正确的使用设备外，为了确保高倍金相自动测量显微镜的镜物镜始终处于最佳工作状态，还需要联合设备部做好镜头的保养计划：
定期清洁：使用柔软的布或麂皮，轻轻擦拭物镜表面，去除灰尘和指纹。如有难以去除的污渍，可使用专用的镜头清洁剂或异丙醇与蒸馏水混合液进行擦拭。
防尘措施：在不使用显微镜时，应使用防尘罩盖住，以防止灰尘进入显微镜内部。同时，定期用吹尘球或软刷清除物镜上的灰尘。
避免碰撞：在搬运或移动显微镜时，应小心轻放，避免物镜与其他物体发生碰撞或刮伤。
定期检查：定期检查物镜的成像质量，如发现像差增大或成像模糊，应及时联系专业人员进行检查和维修。
