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透明晶圆缺陷扫描Lumina AT1

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透明晶圆缺陷扫描Lumina AT2-EFEM

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透明晶圆缺陷扫描Lumina AT2

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金相显微镜,平面度测试仪,3D表面轮廓仪,扫描电子显微镜,原子力显微镜以及透明晶圆缺陷扫描仪。

北京伊微视科技有限公司是一家专注于提供显微、膜厚测量以及光电测试设备的企业。

我们致力于为客户提供全面的显微设备,涵盖从毫米到纳米级别的多个领域。我们的产品线包括样品制备设备、体式显微镜、数码显微镜、金相显微镜、平面度测试仪、3D表面轮廓仪、扫描电子显微镜、原子力显微镜以及透明晶圆缺陷扫描仪。

此外,我们还提供专业的薄膜测量设备,包括透明/半透明薄膜的反射光谱测量仪、用于纳米级别测量的椭偏仪,以及针对不透光金属镀膜的X荧光光谱测量仪。

在光电测量设备领域,我们正在不断拓展我们的产品线,已代理的产品包括Sinton的少子寿命测试和Fluxim测量软件。

尺有所短寸有所长,每一个品牌,每一台设备亦如此。在客户的需求上,提供解决方案,是我们服务的宗旨。我们不仅仅是设备的销售商,更是为客户提供解决方案的合作伙伴。



详细信息

简介:

透明晶圆缺陷扫描Lumina AT1可以4分钟内完成150毫米晶圆的扫描,对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。

样品300 x 300 mm

 

厂商简介

Lumina Instruments,总部位于美国加利福尼亚州圣何塞,公司创始人在透明、半透明和不透明基板全表面缺陷检测创新了更快速准确的方法,因此创建了革命性的仪器品牌lumina.

 

技术创新

 

 

将样片放入系统中,3~5分钟即可完成扫描。

收集的数据将被分析,图像和缺陷图将由LuminaSoft软件生成。

感兴趣的缺陷可在扫描电子显微镜(SEM)、椭偏仪、显微镜等上进行进一步分析。

 

将样品放入系统

 

 

激光 - 副本.png


直径为30微米的绿色激光以50毫米的直线运动,反射光和散射光由四个探测器捕获。

 

四通道检测

透明晶圆缺陷扫描Lumina AT1有四个检测通道。它们同时运行以生成四个独立的图像。每个通道有助于检测和分类某些缺陷。

极化:薄膜缺陷、污渍

反射率:划痕、内应力*、玻璃内的条纹*

坡度:划痕、凹坑、凸起、表面形貌

暗场:纳米颗粒、包裹体

 

 

详情7.png


Lumian AT1和AT1-Auto:AT1采取的样品的尺寸为300mm,AT1-Auto采取样品的尺寸为200mm。光斑的大小都在30μm。灵敏度(PSLon玻璃)在150nm;扫描的出结果的时间在4/7/15.5min

 

AT1应用案例:

应用1-玻璃贴膜.png


透明/非透明材质表面缺陷的检测。

 

MOCVD外延生长成膜缺陷管控

PR膜厚均一性评价

Clean制程清洗效果评价

Wafer在CMP后表面缺陷分析

多个应用领域,如ARVR、Glass、光掩模版蓝宝石、Si wafel等、

 

 

 


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