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ALBATROSS-TT 角分辨散射仪
- 型号
- ALBATROSS-TT
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测角仪，应力双折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD检测设备，波片相位延迟，剪切
北京昊然伟业光电科技有限公司成立于 2010 年，专业代理欧美（德国、瑞士、美国、波兰等）高精度的光学检测设备，致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的服务。主要包括：
光学检测产品：应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等测量系统/剪切干涉仪/非接触式测厚仪/测角仪/可调相位延迟波片等；
激光检测产品：激光功率计、能量计及光束质量分析仪等；
集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等
显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。
值得一提的是，近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪，CRD光腔衰荡法高反测量仪，偏心曲率测量仪等产品，为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。
详细信息
ALBATROSS-TT是由德国Fraunhofer IOF 研发的角分辨散射仪，具有高动态范围、高灵敏度、低噪声等特点。
角分辨散射仪可测量参数：角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF，双向透射分布BTDF，散射损耗，反射，透射等，且具有3D扫描功能。
测试光源：405nm，532nm，640nm等激光光源
测试样品：光学或非光学基底和表面
可测样品规格最大重量： 1 kg
最大尺寸： ø200 mm x 100 mm
指标参数：
角度分辨率：<0.001°
角精度：<0.02° (2D), <0.1° (3D)
对粗糙度的灵敏度 < 0.1 nm
测量重复精度：优于5%
BRDF/BTDF 测试动态范围：≥1013 @532nm
BRDF/BTDF 最小测量值：1×10-8sr-1
设备应用：
1 主要用于光学系统光机件表面的散射测量，包括双向反射分布函数（BRDF），双向透射分布函数(BTDF)和半球空间积分散射（ARS）
2 对光学器件表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析，包括：
产品质量分析
光学性能分析
粗糙度分析等
