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CMI900 进口铜厚测量仪-镀层厚度检测仪

型号
CMI900
深圳谱赛斯科技有限公司

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膜厚仪,膜厚测试仪,镀层测厚仪,牛津膜厚仪,膜厚仪厂家,镀层厚度检测仪,X射线测厚仪,X荧光测厚仪

深圳谱赛斯科技有限公司专业的X荧光测厚仪及牛津膜厚仪厂家,主营:镀层厚度检测仪,X荧光测厚仪,牛津膜厚仪,X射线测厚仪等。我司坐落于深圳工业重镇松岗镇中心的佳裕大厦,专注于英国牛津全系列测厚仪在国内的销售与维护。我司拥有极为专业销售及维修团队,80%以上人员从事测厚仪行业超过十年。连续十余年为全国各地的PCB、LED、SMD、半导体、连接器、端子、紧固件、汽车、五金等制造厂商及高校、科研机构、质检机构等广大客户提供快捷、优质的售前及售后服务和技术支持。并获得业界无数好评。

 

详细信息

进口铜厚测量仪-镀层厚度检测仪CMI700参数说明:

存 储 量:8000字节,非易失性

尺    寸:长29.21×宽26.67×高13.97CM(11 1/2×10 1/2×5 1/2 英寸)

重    量:2.79Kg(6磅)

单    位:通过一个按键实现英制和公制的自动转换

单位转换:可选mils 、μm、μin、mm、in或%为显示单位

接    口:RS-232 串行接口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机

显    示:带背光和宽视角的大LCD液晶显示屏,480(H)×32(V)象素

统计显示:测量个数,标准差,平均值,zui大值,zui小值

统计报告:需配置串行打印机或PC电脑下载存储位置,测量个数,铜箔类型,线形铜线宽,测量日期/时间,平均值,标准差,方差百分比,准确度,zui高值,zui低值,值域,CPK 值,单个读数,时间戳,直方图

    表:直方图,趋势图,X-R 图

进口铜厚测量仪-镀层厚度检测仪CMI700SRP-4 探头规格

准确度:±1% (±0.1 μm)参考标准片

精确度:化学铜:标准差0.2 %电镀铜:标准差0.3 %

分辨率:0.1μm≥10μm0.01μm<10μm0.001μm<1μm0.01mils≥1 mil0.001mils<1mil

厚度测量范围:化学铜:0.25μm–12.7μm10μin–500μin

电镀铜:2.5μm–254μm0.1mil–10mil

准确度:± 0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)

精确度:1.2 mil 时,1.0% (典型情况下)

CMI700ETP 探头规格

分辨率:0.01 mils (0.25 μm)

电涡流:遵守ASTM E37696 标准的相关规定

测量厚度范围:0.08 - 4.0 mils (2 - 102 μm)

孔zui小直径:35 mils (899 μm)

孔径范围: 0.899 mm-3.0 mm

线性铜线宽范围:203μm–7620μm8mil–300mil

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