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CMI730台式涂镀层测厚仪*

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膜厚仪,膜厚测试仪,镀层测厚仪,牛津膜厚仪,膜厚仪厂家,镀层厚度检测仪,X射线测厚仪,X荧光测厚仪

深圳谱赛斯科技有限公司专业的X荧光测厚仪及牛津膜厚仪厂家,主营:镀层厚度检测仪,X荧光测厚仪,牛津膜厚仪,X射线测厚仪等。我司坐落于深圳工业重镇松岗镇中心的佳裕大厦,专注于英国牛津全系列测厚仪在国内的销售与维护。我司拥有极为专业销售及维修团队,80%以上人员从事测厚仪行业超过十年。连续十余年为全国各地的PCB、LED、SMD、半导体、连接器、端子、紧固件、汽车、五金等制造厂商及高校、科研机构、质检机构等广大客户提供快捷、优质的售前及售后服务和技术支持。并获得业界无数好评。

 

详细信息

牛津仪器CMI730系列能为磁性基材上的非磁性涂/镀层和电镀镍层、导性基材上的非导性涂/镀层提供高科技的无损涂镀层厚度检测。

主机规格:        CMI760配置包括:
磁 感 应:符合ASTM B499和B530、DIN50981、ISO 2178及BS 5411第9和11部分测试方法
电 涡 流:符合ASTM B244和B259、DIN50984、ISO 2360及BS 5411第3部分的测试方法
存 储 量:8000条读数
准 确 度:相对于标准片±(1%+0.1μm)
输    出:RS-232串行输出端口,可下载到打印机或计算机
单位转换:可选择mils、μm、μin、mm、in、%单位显示
尺    寸:长29.21×宽26.67×高13.97CM(11 1/2×10 1/2×5 1/2 英寸)
重    量:2.79Kg(6磅)
显    示:带背光和宽视角的大LCD液晶显示屏,480(H)×32(V)象素
统计显示:平均值,zui高值,zui低值,标准差,相对标准偏差以及CPK
图    表:直方图,趋势图,X-R 图        ?    CMI700主机
电涡流模式:
?    ECP探头
?    NIST认证的校验用标准片
磁感应模式:
?    SMP探头
?    NIST认证的校验用标准片
可选备件:
?    SRG软件
SMP 探头适用        主机界面
电涡流模式    测量范围
导性基材上的非导性涂/镀层    0-1000μm(0-40.0mils)
钢铁上的锌层    0-37.5μm(0-1.50mils)
钢铁上的镉层    0-37.5μm(0-1.50mils)
钢铁上的铜层    0-37.5μm(0-1.50mils)
铁上的镍层(电镀后的)    0-75.0μm(0-3.00mils)
 
     

ECP 探头适用        
磁感应模式    测量范围
磁性基材上的非磁性涂/镀层    0-1250μm(0-50.0mils)
磁性基材上的电镀镍层    0-125μm(0-5.00mils)
         

 

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