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CMI243手持式涂镀层测厚仪市场价
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代理商深圳谱赛斯科技有限公司专业的X荧光测厚仪及牛津膜厚仪厂家,主营:镀层厚度检测仪,X荧光测厚仪,牛津膜厚仪,X射线测厚仪等。我司坐落于深圳工业重镇松岗镇中心的佳裕大厦,专注于英国牛津全系列测厚仪在国内的销售与维护。我司拥有极为专业销售及维修团队,80%以上人员从事测厚仪行业超过十年。连续十余年为全国各地的PCB、LED、SMD、半导体、连接器、端子、紧固件、汽车、五金等制造厂商及高校、科研机构、质检机构等广大客户提供快捷、优质的售前及售后服务和技术支持。并获得业界无数好评。
牛津仪器CMI243测量黑色金属底材上的金属镀层厚度,用于紧固件、螺栓、汽车部件、齿轮、管件等表面镀层。
技术规格: CMI243配置包括:
准 确 度:相对标准片±3%
精 确 度:0.3%
分 辨 率:0.1μm(0.01mils)
电 涡 流:遵循DIN50984,BS5411 Part 3,ISO2360,ISO21968草案,ASTM B499,ASTM E376
存 储 量:26,500条存储读数
单 位:密耳(mil)、微米(μm ),一键自动转换
统计显示:读数次数、平均值、标准差、zui高zui低值
接 口:RS-232串行输出端口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机
显 示:3位数液晶显示屏,字体高度12.7mm(1/2")
尺 寸:长×宽×高=149×79.4×30.2mm
(5 7/8”×3 1/8”×1 3/16”)
重 量:0.26kg(9 oz) 含电池
电 池:9V碱性电池,65小时连续使用 ? CMI243主机
? ECP-M探头及拆除指南
? 校准用铁上镀锌标准片组
选购部件
? SMTP-1探头(磁感应探头)
? RS232串行电缆
CMI243探针状况
CMI243的ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计,此单探头可以测量铁质底材上几乎所有金属覆层,例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。
zui小柱面半径 工作高度 zui小测量面积直径 zui小底材厚度
凸面 凹面
1.2mm
(0.045") 3.5mm
(0.135") 100mm
(4") 2.5mm
(0.09") 0.3mm
(12mils)
操作范围
铁上镀层 镀层厚度范围 探头
Zn 0-38μm(0-1.5mil) ECP-M
Ni 0-75μm(0-3.0mil) ECP-M
Cd 0-38μm(0-1.5mil) ECP-M
Cr 0-38μm(0-1.5mil) ECP-M
Cu 0-10μm(0-0.4mil) ECP-M
非磁性/Fe 0-1270μm(0-50mil) SMP-1
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