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CMI铜箔测厚仪批发

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膜厚仪,膜厚测试仪,镀层测厚仪,牛津膜厚仪,膜厚仪厂家,镀层厚度检测仪,X射线测厚仪,X荧光测厚仪

深圳谱赛斯科技有限公司专业的X荧光测厚仪及牛津膜厚仪厂家,主营:镀层厚度检测仪,X荧光测厚仪,牛津膜厚仪,X射线测厚仪等。我司坐落于深圳工业重镇松岗镇中心的佳裕大厦,专注于英国牛津全系列测厚仪在国内的销售与维护。我司拥有极为专业销售及维修团队,80%以上人员从事测厚仪行业超过十年。连续十余年为全国各地的PCB、LED、SMD、半导体、连接器、端子、紧固件、汽车、五金等制造厂商及高校、科研机构、质检机构等广大客户提供快捷、优质的售前及售后服务和技术支持。并获得业界无数好评。

 

详细信息

CMI铜箔测厚仪CM95特点描述:

1CMI铜箔测厚仪CM95快速精确地鉴定特定铜箔厚度

2CMI铜箔测厚仪可测硬板、柔性板、单层或多层线路板表面的铜箔

3CMI铜箔测厚仪配有超软接触式探针,避免铜箔划伤;将探针放到铜箔表面就开

4铜箔测厚仪CM95始测量,看到相应厚度指示,非破坏性检测

5铜箔测厚仪CM95出厂前已校准,不需标准片

6铜箔测厚仪CM95设有低电量提醒

7铜箔测厚仪CM95CE认证

铜箔测厚仪CM95CE规格参数:

尺    寸:宽×深×高=66×32×104mm(2.6”×1.25” ×4.1”)

 重    量:125g(4.4 oz)

厚度测量范围:化学铜:0.25μm–12.7μm0.01mils0.5mils

电镀铜:2.0μm–254μm0.1mil–10mil

线性铜线宽范围:203μm–7620μm8mil–300mil

器再现性:0.08μm at 20μm0.003 mils at 0.79 mils

显示单位:mil、μm、oz

操作界面:英文、简体中文

  量:9690条检测结果(测试日期时间可自行设定)

测量模式:固定测量、连续测量、自动测量模式

统计分析:数据记录,平均,标准差,上下限提醒功能

 电    池:9V

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