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英国Bede多功能高分辨X射线衍射仪
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2.高分辨XRD,三轴RXD,掠入射及小角X光衍射和反射,织构应力分析等 3.可同时配双光源,其中电子束聚焦microsource源强度*,可进行微区分析 4.强大的模拟分析软件,优异的操作软件 5.PC控制光路调整调协,自动化程度高 1.样品轴范围:235°,分辨率:0.00005° 2.探测器轴范围:205°,分辨率:0.00005° 3.样品X-Y-Z范围:150×150mm/9mm,分辨率5um 4.样品倾动(chi角):135°,分辨率:0.003° 5.样品旋转(phi角):正负360°,分辨率:0.004°
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