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失效分析 第三方检测实验室
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- 失效分析
胜科纳米是世界*的材料分析和失效分析实验室之一。公司配备全套材料分析及失效分析设备，包括高分辨透射电子显微镜（HRTEM）、双束聚焦离子束系统(Dual Beam FIB)、场发射扫描电子显微镜(FESEM)、飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)、X射线光电子能谱仪（XPS/ESCA）等。实验室严格遵循实验室管理规范组建，可提供涵盖新材料、新能源、半导体及化工等产业的一站式分析及全面质量解决方案，从而协助企业提高产品品质，加速研发进程，有效提升企业竞争力。公司拥有一批理论基础深厚，实践经验丰富的管理、销售及研发分析测试人员，不仅可以提供产品的全面分析测试，更可以为相关生产流程提供行之有效的技术咨询等高附加值服务。凭借精准的质量控制和*的服务水平，公司致力成为客户*的分析服务供应商。
详细信息
胜科纳米是一家独立第三方材料表征和失效分析实验室，在苏州和新加坡各设立一间实验室，有CMA，CNAS，ISO9001和ISO17025等资质认证。目前我们实验室拥有2个多亿的分析仪器（含新加坡实验室）：D-SIMS、SEM（多台）、3D X-Ray、拉曼、俄歇（AES）、Dual Beam FIB（多台）、HR-TEM、TOF-SIMS、XPS、Ion Milling（多台）、EMMI/OBIRCH(多台)、GPC、ICP-MS、XRF、XRD、椭偏仪、FTIR等，拥有的分析制样能力，是一站式的分析平台。为客户提供7天24小时失效分析和材料分析服务，普通分析项目在收到样品后，72小时之内提供分析结果。胜科纳米（苏州）有限公司2012年注册成立，是民营内资企业，依托在海外积累多年的分析服务经验，服务于国内广大科技企业及科研单位。在系统级失效分析、集成电路半导体前后道制程失效分析、各种材料表面微区结构表征及成分分析、合金材料、TFT & Touch panel镀层及MEMS器件分析、汽车电子元器件的失效分析、太阳能电池片、LED工艺、芯片封装测试等诸多领域均有建树。有任何需求和问题可随时我，谢谢！
