ETSys-Map在线薄膜测量系统是针对纳米薄膜研发和质量控制领域中大面积样品检测专门设计的在线薄膜测量系统。

ETSys-Map在线薄膜测量系统用于对1.4m * 1.1m及以上的大面积样品进行在线检测。可测量光滑平面基底上的纳米薄膜，包括单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；并可同时测量块状材料的折射率n和消光系数k。可测量样品上区域的样品参数以及样品表面的均一性分布。

ETSys-Map融合量拓科技在高精度激光椭偏仪的*技术和产品设计方面的经验，性能。

特点:

• 微米量级的全面积扫描精度

  *的系统设计，能够使探头到达样品上每个点，扫描精度达到微米量级。

• 原子层量级的膜厚分析精度

  采用非接触、无破坏性的椭偏测量技术，对纳米薄膜达到*的测量准确度和灵敏度，膜厚测量灵敏度可达到0.05nm。

• 简单方便安全的仪器操作 

  用户只需一个按钮即可完成复杂的材料测量和分析过程，数据一键导出。丰富的模型库、材料库方便用户进行高级测量设置。