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EX2 自动椭圆偏振测厚仪
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详细信息
EX2自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）椭偏测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。
EX2 自动椭圆偏振测厚仪适用于纳米薄膜的厚度测量，以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。
EX2 自动椭圆偏振测厚仪还可用于同时测量块状材料（如，金属、半导体、介质）的折射率n和消光系数k。
特点
- 经典消光法椭偏测量原理
仪器采用消光法椭偏测量原理，易于操作者理解和掌握椭偏测量基本原理和过程。
- 方便安全的样品水平放置方式
采用水平放置样品的方式，方便样品的取放。
- 紧凑的一体化结构
集成一体化设计，简洁的仪器外形通过USB接口与计算机相连，方便使用。
- 高准确性的激光光源
采用激光作为探测光波，测量波长准确度高。
- 丰富实用的样品测量功能
可测量纳米薄膜的膜厚和折射率；块状材料的复折射率、样品反射率、样品透过率。
