EX1手动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）椭偏测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款手动教学仪器。

EX1 手动椭圆偏振测厚仪适用于纳米薄膜的厚度测量、以及纳米薄膜的厚度和折射率测量。

EX1 手动椭圆偏振测厚仪还可用于测量块状材料（如，金属、半导体、介质）的折射率n和消光系数k。

特点

• 消光法椭偏测量原理
•   仪器采用消光法椭偏测量原理，易于操作者理解和掌握椭偏测量基本原理和过程。
• 方便的样品水平放置方式
•   采用水平放置样品，方便样品取放。
• 精巧的一体化结构
•   集成一体化设计，精巧的仪器外形，方便地显示仪器测量过程中的光强信息。
• 高准确性的激光光源
•   采用激光作为探测光波，测量波长准确度高。
• 实用的样品测量功能
•   可测量纳米薄膜的膜厚和折射率、块状材料的复折射率。
• 方便的仪器手动操作
•       手动完成测量，仪器软件辅助进行测量数据的分析。
• 可扩展的仪器功能
•   利用本仪器，可通过适当扩展，完成多项偏振测量实验，如马吕斯定律实验、旋光测量实、旋光等。