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AST椭偏仪SE200BA-M300
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北京燕京电子有限公司成立于1988年，注册资金2124万元。公司位于北京城东北部酒仙桥的中关村电子城科技园区内，建筑面积2000多平方米，地理位置*，交通便利。自成立以来，燕京电子一贯秉承"以科技为先导，以服务为根本"的宗旨，为科研院所和生产企业提供*的仪器设备及解决方案，以其良好的企业形象和品牌价值，发展成了业内*的仪器设备服务商之一。 燕京电子一直以"科技*"的姿态，将*的仪器、技术和解决方案引入国内，并依托于公司强大的技术力量，为客户创造价值，帮助客户成功。目前，公司已经形成多个产品系列，如电子测量仪器、表面物性分析仪器、生命科 学及化学分析仪器、等离子表面处理设备等；产品应用领域包括物理学、光学、材料科学、纳米技术、环境及食品安全等领域；客户覆盖了全国各科研机构、大学实验室和企业研发机构，与他们建立了长期的合作关系。 燕京电子坚持以客户为导向，强化服务意识，提高服务质量。公司设有市场部和销售部，拥有专业的技术支持团队和商务操作团队，为客户提供专业化的售前、售中、售后服务，较大化地节约客户的资金成本和时间成本，与客户共同发展。公司设有独立测试演示中心，引进了等离子表面处理设备、锁相放大器，信号发生器等样机，为客户提供样机操作演示，样品测试和产品代工服务，较大化满足客户的*需求。
详细信息
AST椭偏仪SE200BA-M300
简介
AST椭偏仪SE200BA-M300是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器，主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质。椭偏仪的主要原理是将自然光（紫外光、可见光以及红外光）变成*偏振光后通过一定角度入射到样品上，偏振光进入样品介质后会反射回到椭偏仪检偏器内，由于样品介质会对偏振光的偏振态发生改变，而这种改变会被椭偏仪测量，椭偏仪就是利用这个介质对偏振光性质改变的原理来表征介质的性质的。
SE200BA-M300型号实现250nm到1000 nm超长波段的探测，可实现对材料紫外、可见和红外波段的全覆盖测量研究，同时可搭配自动平台扫描、自动变角、微光斑探测以及平台加热等功能满足不同应用需求。
系统配置:
- 型号：SE200BM-M300
- 探测器：阵列探测器
- 光源：高功率的DUV-Vis-NIR复合光源
- 测量角度变化：手动调节
- 平台：ρ-θ配置的自动成像
- 软件：TFProbe 3.2版本的软件
- 计算机：Inter双核处理器、19”宽屏LCD显示器
- 电源：110–240V AC/50-60Hz，6A
- 保修：一年的整机及零备件保修
- 波长范围：250nm到1000 nm
- 波长分辨率: 1nm
- 光斑尺寸：1mm至5mm可变
- 入射角范围：0到90度
- 入射角变化分辨率：5度间隔
- 样品尺寸：大直径为300mm
- 基板尺寸：多可至20毫米厚
- 测量厚度范围*：0nm〜10μm
- 测量时间：约1秒/位置点
- 精度*：优于0.25％
- 重复性误差*：小于1 Ǻ
规格参数
波长范围：250nm 到 1000 nm
波长分辨率: 1nm
光斑尺寸：1mm 至 5mm 可变
入射角范围：10 到 90 度
入射角变化分辨率：0.01 度
样品尺寸：大直径为 300mm
基板尺寸：多可至 20 毫米厚
选项配置
- 用于反射的光度测量或透射测量；
- 用于测量小区域的微小光斑；
- 用于改变入射角度的自动量角器；
- X－Y成像平台(X-Y模式，取代ρ-θ模式)；
- 加热/致冷平台；
- 样品垂直安装角度计；
- 波长可扩展到远DUV或IR范围；
- 扫描单色仪的配置；
- 联合MSP的数字成像功能，可用于对样品的图像进行测量等。
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