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Delcom 20J3 STAGE 薄膜电阻测量仪
- 型号
- Delcom 20J3 STAGE
- 参数
- 应用领域:电子,综合
该企业相似产品
膜厚仪，轮廓仪，EVG键合机，EVG光刻机，HERZ隔震台，Microsense电容式位移传感器
岱美仪器技术服务（上海）有限公司（Dymek Company Ltd ，下面简称岱美）成立于1989年，是一间拥有多年经验的高科技设备分销商，主要为数据存储、半导体、光通讯、高校及研发中心提供各类测量设备、工序设备以及相应的技术支持，并与一些重要的客户建立了长期合作的关系。自1989年创立至今，岱美的产品以及各类服务、解决方案广泛地运用于中国香港，中国大陆（上海、东莞、北京），中国台湾，泰国，菲律宾，马来西亚，越南及新加坡等地区。
岱美在中国大陆地区主要销售或提供技术支持的产品：
晶圆键合机、纳米压印设备、紫外光刻机、涂胶显影机、硅片清洗机、超薄晶圆处理设备、光学三维轮廓仪、硅穿孔TSV量测、非接触式光学三坐标测量仪、薄膜厚度检测仪、主动及被动式防震台系统、应力检测仪、电容式位移传感器、定心仪等。
岱美重要合作伙伴包括有：
Thetametrisis, EVG, FSM, Opto-Alignment, Herz, PLSINTEC, Film Sense, Reditech, Lazin, Delcom, Microsense, Shb, boffotto, RTEC, Kosaka, Nanotronics, MTInc, 4D, Daeil, Microphysics,
n&k Technology, First Nano, Schmitt, LESCO, Otsuka, STI, Kurashiki, Ryokosha, SURAGUS, Westbond...
如有需要，请联系我们，了解我们如何开始与您之间的合作，实现您的企业或者组织机构长期发展的目标。
详细信息
薄膜电阻测试仪是用于测量薄膜材料电阻值的仪器。它通常采用四引线测量法，通过施加电流和测量电压来计算出电阻值。薄膜电阻测试仪具有高精度、高稳定性和可靠性的特点，广泛应用于电子、光电、半导体等领域中薄膜材料的研究和生产过程中。
一、薄膜电阻测试仪优点
一、薄膜电阻测试仪优点
•允许用户以精确增量方式在传感器间隙移动材料
•控制传感器间隙中材料的仰角
•大幅提高可重复性和再生产性
二、产品特色
•46 x 46 cm 大表面
•易于使用的手轮精确控制仰角
•耐用的13毫米聚甲醛树脂与铝支架制成
•只需两个螺钉即可轻松安装和拆卸传感器
•兼容任何范围的 20J3 式传感器
•白色表面允许用户创建自定义网格模式
三、 尺寸和重量
材料：聚甲醛树脂
俯仰工作范围：2 mm
可用台面区域：46 x 46 cm
20J3 仪器台：55 × 47 × 8 cm, 10 kg
20J3 仪器台可供运输包装：61 × 61 × 16 cm, 13 kg
四、仰角对读取的影响
——传感器间隙中导电层的仰角可影响 Delcom 计量器读数。放置在接近传感器的一半的材料会比放置在传感器间隙中间时的电阻少。为取得更好效果，用户应每次以同一仰角将材料置入传感器。仪器台是实现这种一致性的便利的方式。
仪器台控件传感器仰角——传感器可以安装在仪器台下面的平台上。在仪器台前端转动手轮将使传感器相对于仪表台台面向上和向下升高。
通过放置导电材料在仪表台台面并移动手轮，直至传感器读取蕞高薄膜电阻值即可轻松找到磁力中心。除非使用不同厚度的材料，否则不需要再次调整仰角。
(1)控制材料的 XY 位置
——将导电材料的 XY 演示控制在传感器间隙中的方法有两种。
用户可以直接在材料上绘制网格图形，或者将材料放入一个塑料信封并在信封上绘制网格图形。然后用户根据这些网格线递增材料。
第二种方法是将网格图形绘制在仪表台台面上(或绘制在仪表台台面的覆盖层上)， 然后使用材料的边缘根踪材料 XY 递增情况。
(2)使用仪表台和软件进行 XY 映射
——Delcom 软件具有用于手动映射的网格日志记录模式。用户可以设置网格的行数和列数。然后, 用户手动指示何时记录下一次读取，或选择软件自动记录读数的定时间隔。通过这一过程，可以快速准确地映射整张材料。
因此可以将来自网格日志记录模式的数据导出到 Microsoft Excel 中，可以轻松创建图表，以图形方式描述材料 的薄膜电阻。
五、产品原理和结构示意图
原理图
俯视图
前视图
