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FR-uProbe-LC 光学显微镜适配器
- 型号
- FR-uProbe-LC
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岱美仪器技术服务（上海）有限公司（Dymek Company Ltd ，下面简称岱美）成立于1989年，是一间拥有多年经验的高科技设备分销商，主要为数据存储、半导体、光通讯、高校及研发中心提供各类测量设备、工序设备以及相应的技术支持，并与一些重要的客户建立了长期合作的关系。自1989年创立至今，岱美的产品以及各类服务、解决方案广泛地运用于中国香港，中国大陆（上海、东莞、北京），中国台湾，泰国，菲律宾，马来西亚，越南及新加坡等地区。
岱美在中国大陆地区主要销售或提供技术支持的产品：
晶圆键合机、纳米压印设备、紫外光刻机、涂胶显影机、硅片清洗机、超薄晶圆处理设备、光学三维轮廓仪、硅穿孔TSV量测、非接触式光学三坐标测量仪、薄膜厚度检测仪、主动及被动式防震台系统、应力检测仪、电容式位移传感器、定心仪等。
岱美重要合作伙伴包括有：
Thetametrisis, EVG, FSM, Opto-Alignment, Herz, PLSINTEC, Film Sense, Reditech, Lazin, Delcom, Microsense, Shb, boffotto, RTEC, Kosaka, Nanotronics, MTInc, 4D, Daeil, Microphysics,
n&k Technology, First Nano, Schmitt, LESCO, Otsuka, STI, Kurashiki, Ryokosha, SURAGUS, Westbond...
如有需要，请联系我们，了解我们如何开始与您之间的合作，实现您的企业或者组织机构长期发展的目标。
详细信息
介绍：
FR-uProbe-LC, 只需连接到大多数市售光学显微镜（反射率和/或透射率）的 C-Mount适配器，即可提供:
o 在显微镜支持的波长范围内进行实时光谱测量
o 薄膜厚度、光学特性、不均匀性测量
o 使用集成、USB 连接的高分辨率和高质量彩色相机进行成像
o 不受显微镜本身性能影响
光斑尺寸（收集反射率或透射率信号的区域）由孔径尺寸和物镜放大倍率定义，可小至 2μm.
应用：
o 大学 & 研究实验室
o 半导体（氧化物、氮化物、Si、抗蚀剂等）
o MEMS 器件（光刻胶、硅膜等）
o 液晶显示器LED
o 数据存储
o 阳极氧化
o 弯曲基材上的硬/软涂
o 聚合物涂料、粘合剂等
o 生物医学（聚对二甲苯、导管壁厚等）
o 联系我们您的应用需求
特征：
o 单击分析（无需初始值）
o 可以动态连续测量
o 测量n & k、颜色座标
o 数据库内建 700 多种材料
o 用于离线分析的多个安装
o 免费软件更新
规格：
测量区域光斑（收集反射信号的区域）与物镜和孔径大小有关, 标准孔径尺寸为：500μm（方形）、250μm（方形）、100μm（方形）.250μm为默认孔径值.可根据要求提供的其他孔径尺寸：150μm（方形）和 50μm（方形）.
测量原理：
