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Exicor® PV-Si 应力双折射检测
- 型号
- Exicor® PV-Si
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测角仪，应力双折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD检测设备，波片相位延迟，剪切
北京昊然伟业光电科技有限公司成立于 2010 年，专业代理欧美（德国、瑞士、美国、波兰等）高精度的光学检测设备，致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的服务。主要包括：
光学检测产品：应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等测量系统/剪切干涉仪/非接触式测厚仪/测角仪/可调相位延迟波片等；
激光检测产品：激光功率计、能量计及光束质量分析仪等；
集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等
显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。
值得一提的是，近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪，CRD光腔衰荡法高反测量仪，偏心曲率测量仪等产品，为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。
详细信息
在硅太阳能电池板的生产过程中，硅晶体中的应力在制作过程中往往没有被检测到，我们描述了一种测量硅锭的应力双折射检测，它可以是方形的，也可以是生长的，然后被锯成硅片，当这台仪器被用作质量控制工具时，在后续加工成本发生之前，可以识别出低质量的硅锭或钢锭。此外，该仪器还为硅晶体的生长提供了一种提高硅锭质量的工具，使其能够生产出较薄的硅片，降低了机械产量损失。
Hinds Instruments 的Exicor® 应力双折射检测系统PV-Si是Exicor双折射测量系统系列产品的工作平台的扩展。本系统采用高质量的对称光弹性调制器、1550 nm激光器和Ge雪崩光电二极管探测器，实现了光伏和半导体工业中硅材料的高精度双折射测量，除硅外，还可测量蓝宝石、碳化硅、硒锌、镉等材料。PV-Si铸锭模型坚固、通用，可容纳和测量直径达8英寸的500毫米粗锭。台面设计和直观的自动扫描软件使该产品成为原材料改进、研发和日常评估的选择，也是对原始硅锭和其他高技术材料进行评估的选择。
