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PID Check 便携式现场PID测试仪
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束蕴仪器（上海）有限公司自成立以来，凭借与德国布鲁克（BRUKER）、衍射数据中心(ICDD)、德国Freiberg等实验室分析仪器品牌的战略合作，迅速成为业界仪器供应商。
我们拥有一支积极乐观，正直诚信的年轻团队，我们热忱的信仰科学，相信科学技术能为我们的客户带来高品质的生活，为社会的进步起到积极的促进作用。
束蕴仪器为各类客户提供优质的实验室和工业检测仪器及过程控制设备，专业的应用支持及完善的售后服务，在中国大陆的诸多领域拥有大量用户，如高校、科研院所、航空航天，政府组织、检验机构、及工业企业。产品覆盖了医药、生物、材料、考古、电子、食品等各个行业。
公司的宗旨：为客户量身打造合适的综合解决方案、技术支持和现场服务，优质的客户培训，快速及时的售后服务。
束蕴仪器，让世界更清晰！
主营仪器设备：
--高分辨X射线显微CT、多量程X射线纳米CT、X射线衍射仪、X射线荧光光谱仪、电子顺磁共振波谱仪 （ESR/EPR）、台式核磁共振波谱仪 TD-NMR、光学轮廓仪等 -- 德国布鲁克Bruker 授权代理商
--PDF衍射数据库、JADE软件--衍射数据中心（ICDD)授权代理商
--晶圆片寿命检测仪、在线晶圆片/晶锭点扫或面扫检测、晶圆片在线面扫检测仪、台式PID潜在诱导退化测试仪、释光测定仪等--德国Freiberg Instruments授权代理商
--BPCL化学发光仪--微光科技华东区总代理
单位名称：束蕴仪器（上海）有限公司
详细地址：上海市松江区千帆路288弄G60科创云廊3号楼602室
详细信息
便携式现场PID测试仪的好处和特点
安装后或采购光伏电站前的质量检查
PIDcheck是能够发现已安装的光伏组件是否对PID敏感的工具。
功率和产量预测
如果PID已经发生，只有PIDcheck的测量结果可以提供未来产量的预测。
评估针对PID的对策
PIDcheck设备能够模拟恢复设备（偏移箱、浮动控制器）的应用，因此有助于在其安装前评估恢复效果。
用于现场PID恢复的可逆高压极性
便携式现场PID测试仪可测量的参数
分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度
易于使用的便携式设备
欲了解更多信息，请访问www.pidcon。。ｃｏｍ
● 原型：24个电池，在高压下正向暗I-V曲线的测量
● 新功能：高压可双向施加应力和恢复 在活动模块中成功演示
● Fraunhofer CSP 于2015年*提交认证
● 2018年上市
● 用户：评估员、操作员、服务专家、安装人员、模块制作人
* Patent pending „Verfahren und Anordnung zur Prüfung eines Solarmoduls auf Anfälligkeit für Potentialinduzierte Degradation”, DE 10 2015 213 047 A1
参考文献： cells (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. Hähnel, S. Großer, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163
(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tröndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic
modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).
(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. Hähnel, S. Großer, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).
(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. Hähnel, S. Großer, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells
as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.
(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Großer, S. Richter, A. Hähnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.
(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. Pöblau, S. Großer, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.
(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.
. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cellsas Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.
(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Großer, S. Richter, A. Hähnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.
(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. Pöblau, S. Großer, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.
(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.
