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300KV透射电镜Spectra 300 TEM

具体成交价以合同协议为准 2023-06-08 上海市

型号

参数: 价格区间:面议仪器种类:热场发射应用领域:环保,化工

赛默飞电子显微镜

高级会员第2年

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主营产品公司介绍

扫描电子显微镜，双束电镜，透射电子显微镜，冷冻电镜，X射线光电子能谱仪，三维可视化软件

原FEI公司，2016年被赛默飞世尔科技收购，成为赛默飞材料与结构分析（MSD) 电镜事业部，是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。我们提供扫描电子显微镜SEM，透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam FIB-SEM，结合先进的软件套件，运用广泛的样本类型，通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合，使客户的问题变成有效可用的数据。

详细信息

300KV透射电镜Spectra 300 TEM

适用于所有材料科学和半导体应用的高分辨率TEM和STEM显微镜

Spectra 300 (S)TEM的主要特点

Spectra 300 (S)TEM可配置高能量分辨率电子源

Current Time 0:00/Duration 2:18Loaded: 7.20%
还可配置超高亮度X-CFEG光源提供最高分辨率的STEM成像性能

Panther STEM探头系统具有的灵敏度

先进的STEM成像能力

Spectra 300 (S)TEM灵活的能谱配置

Current Time 0:00/Duration 0:12Loaded: 99.73% Current Time 0:00/Duration 0:10Loaded: 100.00%

Current Time 0:00/Duration 0:30Loaded: 33.17%

Spectra 300 (S)TEM的原位功能

Spectra 300 (S)TEM的规格

图像矫正器	能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：60 pm STEM 分辨率：136 pm
探针矫正器：	能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：100 pm STEM 分辨率：50 pm（30 kV 下 125 pm）
未校正	能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：100 pm STEM分辨率：136 pm
X-FEG/单色器双校正（探针+图像矫正器）	能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：60 pm STEM分辨率：50 pm（30 kV 下 125 pm）
X-CFEG 双校正（探针+图像校正）	能量散布：0.4 eV 信息限制：70 pm STEM分辨率：50 pm（30 kV 下 136 pm）
离子源	X-FEG Mono：高亮度肖特基场发射枪和单色器，可调谐能量分辨率范围为 1-<0.2 eV X-FEG UltiMono：高亮度肖特基场发射枪，配备超稳定单色器和加速电压，可调谐能量分辨率范围为 1eV-<0.03eV X-CFEG：固有能量分辨率<0.4 eV 的超高亮度 30 – 300 kV 的灵活高张力范围

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300KV透射电镜Spectra 300 TEM

适用于所有材料科学和半导体应用的高分辨率TEM和STEM显微镜

Spectra 300 (S)TEM的主要特点

Spectra 300 (S)TEM的规格

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产品参数

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价格区间	面议
仪器种类	热场发射
应用领域	环保,化工