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最深入的材料分析透射电镜 Talos F200X TEM

型号
参数
价格区间:面议 仪器种类:热场发射 应用领域:环保,化工
赛默飞电子显微镜

高级会员2年 

生产厂家

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扫描电子显微镜,双束电镜,透射电子显微镜,冷冻电镜,X射线光电子能谱仪,三维可视化软件
FEI公司,2016年被赛默飞世尔科技收购,成为赛默飞材料与结构分析(MSD) 电镜事业部,是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM,透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam FIB-SEM,结合先进的软件套件,运用广泛的样本类型,通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合,使客户的问题变成有效可用的数据。

详细信息

最深入的材料分析透射电镜 Talos F200X TEM

最深入的材料分析透射电镜 Talos F200X TEM适用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及准确化学定量的 TEM 显微镜

Talos F200X G2 透射电子显微镜功能

可搭配众多高分辨率场发射枪 (FEG)

选择高亮度 X-FEG 或超高亮度冷场发射枪 (X-CFEG)。X-CFEG 将 (S)/TEM 成像及能量分辨率相结合。

直观的软件

Thermo Scientific Velox 软件可实现对多模式数据的快速、轻松的采集和分析。

更短的化学成分获得周期

快速、精确的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示纳米级细节,同时保持高洁净度。

更多空间

为动态实验添加特定用途的原位样品杆。

高度可重复的数据采集

所有日常 TEM 调整、例如聚焦、共心高度、电子束移位、冷凝器光阑、电子束倾斜枢轴点和旋转中心都是自动进行的,确保您始终从最佳成像条件开始工作。实验可以能够再现的方式重复进行,从而使您能够专注于研究而非仪器操作。

更好的图像数据

高通量 STEM 成像采用同步多信号检测,可为高质量图像提供更高的对比度。

高质量 (S)TEM 图像和准确的 EDS

通过创新且直观的 Velox 软件用户界面采集高质量的 TEM 或 STEM 图像。Velox 软件中的 EDS 吸收校正功能可实现极准确的定量。  

提高了生产率

超稳定的色谱柱、借助 SmartCam 的远程操作和恒定功率物镜,可进行快速模式和高电压 (HT) 切换。多用户环境的快速轻松切换。

性能数据

HRTEM 线分辨率
  • ≤0.10 nm

STEM 分辨率
  • ≤0.16 nm (X-FEG)

  • ≤0.14 nm ,100 pA (X-CFEG)

Super-X EDS 系统
  • 4 SDD 对称设计、无窗、遮光板保护

电子能量损失光谱 (EELS) 能量分辨率
  • ≤0.8 eV (X-FEG)

  • ≤0.3 eV (X-CFEG

200 kV 下的枪亮度  
  • 1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG)

  • 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)



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产品参数

价格区间 面议
仪器种类 热场发射
应用领域 环保,化工
企业未开通此功能
详询客服 : 0571-87858618
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